USPM RU W Spectrophotometer
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この製品について

■概要380nm～1,050nmの可視光から近赤外まで幅広い波長領域での分光測定を実現。オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU- Wは、可視光領域から近赤外領域まで の幅広い波長での分光測定を、スピーディ高精細に行います。通常の分光光度計では 測定できない、微小エリアや、曲面の反射率 の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。

・充実の分光測定機能：反射率、膜厚、物体色、透過率、入射角45度の反射率といった様々な分光測定をこの一台で可能とします。
・反射率測定：対物レンズで集光したø17～70μmの微小スポットの反射率を高速・高精度に測定するため、微細な電子部品やレンズなどの曲面測定に最適です。回転ステージを使用すると、レンズ周辺部の反射率測定も簡単にできます。
・膜厚測定：反射率データを活用して、約50nm～約10μmの単層膜、多層膜の膜厚測定を行います。
・物体色測定：反射率データからXY色度図、L*a*b*色度図、および関連する数値を表示します。
・透過率測定 (オプション) ：ステージ下部からφ2mmの平行光を透過させることで、平面サンプルの透過率を測定します。偏光素子ユニットをつけるとP偏光・S偏光測定にも対応します。
・入射角45度の反射率測定 (オプション) ：φ2mmの平行光を、側面から45度面に反射させ、反射率を測定します。偏光素子ユニットをつけるとP偏光・S偏光測定にも対応します。
・曲面・微小エリアの高速・高精度測定を実現
・高速測定を実現：フラットフィールドグレーティング及びラインセンサを用いた全波長同時分光測定により、高速測定を実現します。
・微細部品、レンズの反射率測定に最適：ø17～70μmの測定エリアで非接触測定を可能にする専用対物レンズを新たに設計しました。通常の分光光度計では測定できない、微細な電子部品やレンズなどの曲面でも、再現性の高い測定を実現します。
・反射率測定時の裏面反射防止処理は不要：専用対物レンズと輪帯照明の組み合わせにより、被検物裏面の反射防止処理を行わずに最薄0.2mmの反射率*を測定します。*40×対物レンズ使用時、当社測定条件での測定。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
USPM RU W Spectrophotometer

取扱企業
株式会社エビデント

カテゴリ

観察機器

光学顕微鏡

メーター・計測機器

分光測定器

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USPM RU W Spectrophotometer 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定波長	測定方法	波長表示分解能	照明アクセサリー	シフトステージ	装置重量本体	装置重量コントロール電源ボックス	装置寸法本体部	装置寸法コントロール電源ボックス	電源仕様	使用環境
	USPM-RU-W	要見積もり	380~1,050nm	リファレンス試料に対する比較測定	1nm	専用ハロゲン光源　JC12V 55W　 (平均寿命700h)	積載面サイズ：200 (W) × 200 (D) mm 耐荷重：3 kg 動作範囲： (XY) ±40mm, (Z) 125mm	約26 kg (PCを除く)	約6.7kg	360 (W) ×446 (D) ×606 (H) mm	250 (W) ×270 (D) ×125 (H) mm	AC100-240V (110VA) 　50/60Hz	水平で振動がない場所温度：15~30℃ 湿度：15~60％RH (結露なきこと)