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半導体検査装置の製品99点中、注目ランキング上位6点
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 搬送タイプ | 外観寸法 (mm) W×D×H | 用力 (V) 電源 | 用力 (kPa) 真空: 2系統 | 用力 (MPa) 圧空 | 対応ウエハ | ウエハサイズ (インチ) |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
YPI-MX FOUP |
要見積もり |
自動搬送 |
2,145 x 1,340 x 1,860 |
AC200 |
-70 (ウエハ吸着) 、-40 (排気) |
0.6 (FOUP用) |
シリコン、膜付ウエハ |
12 |
半導体検査装置の中で同じ条件の製品
使用用途: 表面欠陥検査
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン