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ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP-YPI-MX FOUP
ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP-株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP
株式会社YGK



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この製品について

FOUP対応300mmウエハ用装置 GEM300・E84対応可能です。

  • シリーズ

    ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP

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ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP 品番1件

次の条件に該当する商品を1件表示しています

商品画像 品番 価格 (税抜) 搬送タイプ 外観寸法 (mm) W×D×H 用力 (V) 電源 用力 (kPa) 真空: 2系統 用力 (MPa) 圧空 対応ウエハ ウエハサイズ (インチ)
ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP-品番-YPI-MX FOUP

YPI-MX FOUP

要見積もり

自動搬送

2,145 x 1,340 x 1,860

AC200

-70 (ウエハ吸着) 、-40 (排気)

0.6 (FOUP用)

シリコン、膜付ウエハ

12

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半導体検査装置の中で同じ条件の製品
使用用途: 表面欠陥検査

フィルターから探す

半導体検査装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査

処理能力 秒/個

0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3

電源 V

0 - 100 100 - 200 200 - 250

分解能 μm

0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50

供給方式

トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダ

コンタクト

テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン

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