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半導体検査装置の製品99点中、注目ランキング上位6点
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | スペクトル領域 | 最小波長間隔 | 積分時間 | xy色度 | 電力 (ワット) | 光束 (ルーメン) | ピーク波長 | 波長 | 色度xy | 輝度 | USB電源 | 分光器寸法 | ファイバー長さ | ファイバー直径 | 動作温度範囲 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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Feasa S1 |
要見積もり |
380nm~780nm |
0.1nm |
2ミリ秒から100秒 |
±0.005 |
10% |
10% |
±1nm |
±0.5NM |
±0.0005 |
<1% |
引き込み電流100mA |
86mm×57mm×75mm |
0.6m |
5.1mmクラッド含む |
0℃から+40℃ |
半導体検査装置の中で同じ条件の製品
使用用途: 電気特性測定
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン