仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。走査型ケルビンプローブシステム (SKPシリーズ) -KP020

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。走査型ケルビンプローブシステム (SKPシリーズ)
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この製品について

■概要ケルビンプローブの老舗メーカー・英国KP Techonology社が開発した、仕事関数・表面電位マッピング装置です。

大気中・非破壊・非接触で、透明電極や有機薄膜特性の均一性評価、組成の変化、電池電極材料や半導体材料の特性分布、さらには金属表面の腐食状態などを仕事関数・表面電位の変化として、広い領域を2次元マッピングします。金属、半導体材料だけでなく酸化物など誘電体材料の測定も可能。

SKPシリーズは、ケルビンプローブ、走査ステージとノイズ遮断用の静電シールドカバーがセットになっています。ステージの走査領域は最大300×300 mm、独自のOff-Null (Baikie) 法により高s/n安定、高分解能1～3 meV を実現。

■特長・ケルビンプローブ法による仕事関数・表面電位測定
・Off-Null (Baikie) 法で安定した高S/N比測定
・高分解能測定 1～3 meV
・非破壊、非接触測定
・大気中で簡単に測定
・ステージ走査範囲：最大300×300 mm
・超高真空対応モデルあり

■Off-Null (Baikie) 法とはケルビンプローブの伝統的な手法では、プローブからの信号がゼロになるようなバイアス電圧を求め、この電圧から仕事関数を求めます。一方Off-Null (Baikie) 法では、バイアス電圧を走査することによってバイアス電圧と信号電圧がバランスする電圧を得るため、電圧の小さな信号を測定する必要がありません。そのため、測定環境やノイズの影響を受けずに、高いs/n比でより素早く正確に仕事関数を測定することが出来ます。

■主な用途・有機EL材料の評価
・薄膜の膜質評価
・太陽電池/有機薄膜太陽電池
・有機/無機半導体
・金属
・浸食・腐食

■オプション・表面光起電力測定用光源 (石英タングステンハロゲン光源/LED) 
・表面光起電力測定用波長可変光源 (400～1,000 nm) 