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分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | SFG分光測定 波長範囲 (赤外光) | SFG分光測定 波長分解能 | SFG分光測定 波長掃引 | SFG分光測定 サンプル照射 ジオメトリ | SFG分光測定 照射ビーム ジオメトリ | SFG分光測定 入射ビーム角度 | SFG分光測定 可視光波長 | 偏光 可視光 | 偏光 赤外光 | 偏光 SFG光 | ビーム径 (サンプルにて) | 感度 | 励起レーザー 方式 | 励起レーザー パルスエネルギー (1,064nm) | 励起レーザー パルスエネルギー安定度 | 励起レーザー パルス幅 | 励起レーザー パルス幅安定度 | 励起レーザー 繰返し周波数 | 波長可変レーザー | 計測系 検出系 | 分光器 焦点距離 | 分光器 スリット幅 | SFG顕微測定オプション 波長範囲 (赤外光) | SFG顕微測定オプション 波長分解能 | SFG顕微測定オプション 可視光波長 | 空間分解能 | 工学系 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
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SFG |
要見積もり |
2.3~10 μm (1,000~4,300 cm-1) |
≦6 cm-1 (≦2 cm-1オプション) |
電動、ソフトウェア制御 |
可視光/赤外光：上側斜め方向 |
ノンコリニア (オプション：コリニア) |
固定、可視光：約60° |
532 nm (1,064 nmオプション) |
直線、縦偏光/横偏光 ソフトウェアにて切替 |
直線、縦偏光/横偏光 ソフトウェアにて切替 |
解析用偏光子 (マニュアル、電動オプション) |
可変 (約150~600 μm) |
空気-水界面測定可 |
半導体レーザー励起固体レーザー |
35 mJ |
≦0.5％ |
28ps±3ps |
±1ps |
50Hz |
方式 光パラメトリック発振器 (OPG) /差周波発生器 (DFG) |
分光器、PMT検出器 |
200 mm |
可変、マニュアル |
2.5~5 μm (2,000~4,000 cm-1) |
≦6 cm-1 |
532 nm |
≦10μm：対物レンズ 10倍 |
SFG分光用光学系と同じ筐体、光学系の切換えにより顕微測定可 |
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