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分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム-SFG
分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム-株式会社東京インスツルメンツ

分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■SFG (和周波発生) 分光システム

・非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体) の分子振動解析が可能 ・固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応 ・デモ測定受付中

■SFG (和周波発生) 分光システム 製品概要

SFG (和周波発生) 分光は、二次非線形光学効果を利用した振動分光法です。この分光法は、高い界面選択性をもつため、表面もしくは界面の単分子層の分子振動構造・配向の解析が可能です。表面 (界面) に赤外光の波長を掃引して測定することで分子をスペクトルより特定し、偏光方向の組合せ (SSP/SPS/PPP) を変えて測定することで、分子配列を解析することが出来ます。 赤外光の波長範囲は4,300~625 cm-1 (2.3 μm~16 μm) 、分解能は<6 cm-1です。位相・強度を測定できるPhase-Sensitive (位相敏感) SFGモジュールやSFG顕微鏡モジュールもあります。

■特長

・表面・界面の分子振動を解析 (構造・配向) ・各種界面の測定 (固体-気体、固体-液体/液体-気体、液体-液体界面) ・非破壊、非接触測定 ・高感度検出:サブモノレイヤの計測 ・埋没界面を含む多様な界面、表面を計測可能

■用途

・接着・接合界面を計測分析 ・電極・触媒表面の界面反応 ・表面・界面の構造解析 ・大気中においての表面化学反応、表面ダイナミクス ・電気化学、エピタキシャル成長などの研究

■オプション

・波長拡張 625 cm-1~ ・Phase-Sensitive (位相敏感) SFG測定 ・SFG顕微鏡 ・二重共鳴:波長可変可視レーザー光としてOPGを追加 ・高分解能オプション:スペクトル分解能 2 cm-1 ・SHG分光 ・サンプル用パージボックス

  • シリーズ

    分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム

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分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) SFG分光測定 波長範囲 (赤外光) SFG分光測定 波長分解能 SFG分光測定 波長掃引 SFG分光測定 サンプル照射 ジオメトリ SFG分光測定 照射ビーム ジオメトリ SFG分光測定 入射ビーム角度 SFG分光測定 可視光波長 偏光 可視光 偏光 赤外光 偏光 SFG光 ビーム径 (サンプルにて) 感度 励起レーザー 方式 励起レーザー パルスエネルギー (1,064nm) 励起レーザー パルスエネルギー安定度 励起レーザー パルス幅 励起レーザー パルス幅安定度 励起レーザー 繰返し周波数 波長可変レーザー 計測系 検出系 分光器 焦点距離 分光器 スリット幅 SFG顕微測定オプション 波長範囲 (赤外光) SFG顕微測定オプション 波長分解能 SFG顕微測定オプション 可視光波長 空間分解能 工学系
分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム-品番-SFG

SFG

要見積もり

2.3~10 μm (1,000~4,300 cm-1)

≦6 cm-1 (≦2 cm-1オプション)

電動、ソフトウェア制御

可視光/赤外光:上側斜め方向
SFG光:反射 (他ジオメトリも可)

ノンコリニア (オプション:コリニア)

固定、可視光:約60°
赤外光:約55°

532 nm (1,064 nmオプション)

直線、縦偏光/横偏光 ソフトウェアにて切替

直線、縦偏光/横偏光 ソフトウェアにて切替

解析用偏光子 (マニュアル、電動オプション)

可変 (約150~600 μm)

空気-水界面測定可

半導体レーザー励起固体レーザー

35 mJ

≦0.5%

28ps±3ps

±1ps

50Hz

方式 光パラメトリック発振器 (OPG) /差周波発生器 (DFG)

分光器、PMT検出器

200 mm

可変、マニュアル

2.5~5 μm (2,000~4,000 cm-1)

≦6 cm-1

532 nm

≦10μm:対物レンズ 10倍
≦5μm:対物レンズ 20倍 (高分解能オプション)

SFG分光用光学系と同じ筐体、光学系の切換えにより顕微測定可

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