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プローブ相関精度
±0.5％ (1mmピッチ)
S値針間隔精度
±10％
針先端半径
調整値±10g
針圧力精度
±10％
絶縁抵抗値
針間隔に対し±0.5％, ＞1×10^5MΩ＠500V
プラナリティ (針先並び)
＜10μm
型番
Type A～I取扱企業
エヌピイエス株式会社カテゴリ
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半導体検査装置の製品105点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | プローブ相関精度 | S値針間隔精度 | 針先端半径 | 針圧力精度 | 絶縁抵抗値 | プラナリティ (針先並び) |
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要見積もり | ±0.5％ (1mmピッチ) | ±10％ | 調整値±10g | ±10％ | 針間隔に対し±0.5％, ＞1×10^5MΩ＠500V | ＜10μm |
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半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
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