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薄膜計測システム MTFW-50-ミワオプト株式会社

MTFW-50 | 薄膜計測システム MTFW-50
ミワオプト株式会社

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この製品について

ガートナ社製エリプソメータにオプションとして装着が可能になり膜厚測定の範囲が広くなります。既設のシステムにも装着が可能になります。単独でもシステムアップは可能です。

■特徴

・高速測定が可能 ・セットアップが簡単 ・エリプソメータの融合 ・反射率の測定が可能 ・測定が容易 ・コンパクトな設計 ・優れた安定性 ・単独でも設置が可能 ・解析が簡単で単純 ・WindowOS ・低価格 ・メニューによるプログラム選択 ・厚膜の測定も可能 (ガラス上で1mmまで可能、Siも可能) ・多点測定も可能

  • 型番

    MTFW-50

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使用用途

#金属加工 #プラスチック成形 #フィルム検査 #紙製品検査 #半導体検査 #塗装管理 #ガラス製造 #電池製造 #医療機器製造

測定原理

接触式 非接触式 超音波式 渦電流式

測定方式

単点式 ラインスキャン式 面スキャン式

構造形態

卓上型 ハンディ型 インライン型

測定対象

薄膜対応型 厚板対応型

測定範囲 mm

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000

分解能 秒

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 10 10 - 10,000

測定精度 mm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1

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この商品の取り扱い会社情報

ミワオプト株式会社

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会社概要

ミワオプト株式会社は1993年の設立であり、光学測定機器の開発および輸入販売を行うメーカーです。 主に膜厚計やウエハの各種測定装置などの光学測定機器を取り扱い、偏光解析によるものや、干渉を利用したものなどバリエーション...

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  • 本社所在地: 東京都

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