制御・計測・センシング
駆動・機械要素・電子制御部品
産業別カテゴリ
電源・エネルギー・熱処理機器
安全・保護・環境対策
材料・素材・ケミカル
電気・電子部品
構造部品・締結要素
ソフトウェア・ネットワーク
サービス
その他
全てのカテゴリ
閲覧履歴
返答率
100.0%
返答時間
27.7時間
温度範囲
0℃~70℃
ステンレススチールボディ
3.05±0.02
推奨ドリルサイズ
3.00mm
長さ (ネジコネクタ含む)
40mm
最小ピッチ
3.5mm
ファイバー
1mm
型番
OH-1シリーズ
LED オプティカルヘッド取扱企業
ピコ株式会社カテゴリ
もっと見る
半導体検査装置の製品97点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
4.8 企業レビュー
600人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
返答時間: 11.05時間
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
| 商品画像 | 価格 (税抜) | 温度範囲 | ステンレススチールボディ | 推奨ドリルサイズ | 長さ (ネジコネクタ含む) | 最小ピッチ | ファイバー |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 要見積もり | 0℃~70℃ | 3.05±0.02 | 3.00mm | 40mm | 3.5mm | 1mm |
半導体検査装置の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が光源品質管理の製品
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン返答率
100.0%
返答時間
27.7時間
