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光学系仕様 分光器レイアウト
ツェルニターナー型
光学系仕様 分光器光学素子
ミラー Al+SiO2/MgF2 コーティング
光学系仕様 対照光束
ダブルビーム方式
光学系仕様 波長送り間隔
0.5 ~ 100 nm
光学系仕様 波長送り速度 nm/min
3,000 nm/min. (5nm間隔で測定)
光学系仕様 信号処理
平均化、平滑化、積分値計算
光学系仕様 測定光サイズ
6 × 2 mm
光学系仕様 測定パラメーター
透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度
光学系仕様 入射角度範囲
透過率測定：0~75度 反射率測定：8~75度
光学系仕様 試料テーブルの回転間隔
0.01°
光学系仕様 光検出器の回転間隔
0.01°
光学系仕様 測定波長範囲
185~1,700nm, 185~3,500nm, 185~4,900nm, 380~1,700nm, 380~3,500nm, 380~5,200nm 185~5,200nm
分光器仕様 バンドパス
0.6 nm@185~990 nm 1.2 nm@990~2,450 nm 2.4 nm@2,450~5,200 nm
分光器仕様 波長正確さ
± 0.24 nm以下
分光器仕様 波長送り繰り返し精度
± 0.12 nm以下
分光器仕様 迷光
< 0.2% (@532 nm)
分光器仕様 ビーム広がり角
± 1
分光器仕様 測光正確さ-1
± 0.003Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用)
分光器仕様 測光正確さ-2
± 0.003Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用)
分光器仕様 測光正確さ-3
± 0.006Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用)
分光器仕様 測光繰り返し精度-1
± 0.0004Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) ± 0.0001Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用)
分光器仕様 測光繰り返し精度-2
± 0.005Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) 0.1秒積算、10回測定時の最大偏差
分光器仕様 ベースライン安定性
0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後)
分光器仕様 光源
ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ Hg-Arランプ (波長校正用)
分光器仕様 搭載偏光子
380~2,200 nm, 220~2,200 nm, 220~4,900 nm, 380~5,200 nm S、P、S+P+ (S+P) /2、Random、ユーザー定義 S:P比
測定コンポーネント 試料ステージ
12 × 10 mm以上 (透過、反射測定)
測定コンポーネント 独立制御
試料テーブルと検出器部の独立制御
測定コンポーネント 同期制御
試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御
測定コンポーネント 試料サイズ
12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下) 12 × 25 mm以上 (入射角度10~75度) 最大Ø120mm with closed lit –
ユーザーインターフェース、寸法 接続
USB 2.0
型番
PHOTON RT 0420 Ultra取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 光学系仕様 分光器レイアウト | 光学系仕様 分光器光学素子 | 光学系仕様 対照光束 | 光学系仕様 波長送り間隔 | 光学系仕様 波長送り速度 nm/min | 光学系仕様 信号処理 | 光学系仕様 測定光サイズ | 光学系仕様 測定パラメーター | 光学系仕様 入射角度範囲 | 光学系仕様 試料テーブルの回転間隔 | 光学系仕様 光検出器の回転間隔 | 光学系仕様 測定波長範囲 | 分光器仕様 バンドパス | 分光器仕様 波長正確さ | 分光器仕様 波長送り繰り返し精度 | 分光器仕様 迷光 | 分光器仕様 ビーム広がり角 | 分光器仕様 測光正確さ-1 | 分光器仕様 測光正確さ-2 | 分光器仕様 測光正確さ-3 | 分光器仕様 測光繰り返し精度-1 | 分光器仕様 測光繰り返し精度-2 | 分光器仕様 ベースライン安定性 | 分光器仕様 光源 | 分光器仕様 搭載偏光子 | 測定コンポーネント 試料ステージ | 測定コンポーネント 独立制御 | 測定コンポーネント 同期制御 | 測定コンポーネント 試料サイズ | ユーザーインターフェース、寸法 接続 |
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要見積もり | ツェルニターナー型 | ミラー Al+SiO2/MgF2 コーティング | ダブルビーム方式 | 0.5 ~ 100 nm | 3,000 nm/min. (5nm間隔で測定) | 平均化、平滑化、積分値計算 | 6 × 2 mm | 透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度 |
透過率測定：0~75度 反射率測定：8~75度 |
0.01° | 0.01° |
185~1,700nm, 185~3,500nm, 185~4,900nm, 380~1,700nm, 380~3,500nm, 380~5,200nm 185~5,200nm |
0.6 nm@185~990 nm 1.2 nm@990~2,450 nm 2.4 nm@2,450~5,200 nm |
± 0.24 nm以下 | ± 0.12 nm以下 | < 0.2% (@532 nm) | ± 1 | ± 0.003Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) | ± 0.003Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用) | ± 0.006Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) |
± 0.0004Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) ± 0.0001Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用) |
± 0.005Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) 0.1秒積算、10回測定時の最大偏差 |
0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後) |
ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ Hg-Arランプ (波長校正用) |
380~2,200 nm, 220~2,200 nm, 220~4,900 nm, 380~5,200 nm S、P、S+P+ (S+P) /2、Random、ユーザー定義 S:P比 |
12 × 10 mm以上 (透過、反射測定) | 試料テーブルと検出器部の独立制御 | 試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御 |
12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下) 12 × 25 mm以上 (入射角度10~75度) 最大Ø120mm with closed lit – |
USB 2.0 |
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波長範囲 nm
100 - 300 300 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000測定波長範囲 nm
200 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 3,000バンド幅 nm
0 - 2 2 - 4 4 - 6 6 - 10測光範囲 Abs
-3 - -1 -1 - 0 0 - 3返答率
100.0%
返答時間
23.2時間
