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28.1時間
真空度
超高真空
測定温度
室温 (低温対応はオプション)
探針数
4
STMスキャン範囲
2 um×2 um
試料ステージ移動範囲
X, Y: ±2 mm
探針ステージ移動範囲 (試料水平方向)
X. Z: ±2 mm, Y: ±4 mm
レンズステージ移動距離
X. -12 mm~+1.5 mm Y: ±2 mm Z: ±2 mm
光入射角度
試料表面に垂直
レンズ
非球面レンズ (NA: 0.3)
型番
USM1400-4P-OPP取扱企業
株式会社ユニソクカテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の製品58点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 真空度 | 測定温度 | 探針数 | STMスキャン範囲 | 試料ステージ移動範囲 | 探針ステージ移動範囲 (試料水平方向) | レンズステージ移動距離 | 光入射角度 | レンズ |
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要見積もり | 超高真空 | 室温 (低温対応はオプション) | 4 | 2 um×2 um | X, Y: ±2 mm | X. Z: ±2 mm, Y: ±4 mm |
X. -12 mm~+1.5 mm Y: ±2 mm Z: ±2 mm |
試料表面に垂直 | 非球面レンズ (NA: 0.3) |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が材料評価の製品
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)をフィルターから探すことができます
使用用途
#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピングXYスキャナレンジ µm
10 - 70 70 - 100 100 - 120Zスキャナレンジ μm
1 - 5 5 - 15 15 - 30分解能 nm
0 - 1 1 - 100真空度 nPa
0 - 100 100 - 50,000到達温度 K
0 - 1 1 - 6 6 - 101振動ノイズ μm/s
0 - 1 1 - 7XYステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400Zステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200
![走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー](https://metoree.s3.ap-northeast-1.amazonaws.com/img/products-new/30024292024050560.png)
