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返答時間
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真空度
超高真空
測定温度
室温, 78 K、6-100 K
液体He保持時間
40 h/12 L
STMスキャン範囲
1.7 um
探針粗動距離 (試料垂直方向)
±2.5 mm
探針ステージ移動範囲 (試料水平方向)
±3 mm
レンズステージ移動距離
X, Y: ±3 mm、Z: ±2 mm
光入射角度
試料面直方向から55°
レンズ
非球面レンズ (NA: 0.3)
型番
USM1400-OPP取扱企業
株式会社ユニソクカテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の製品58点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 真空度 | 測定温度 | 液体He保持時間 | STMスキャン範囲 | 探針粗動距離 (試料垂直方向) | 探針ステージ移動範囲 (試料水平方向) | レンズステージ移動距離 | 光入射角度 | レンズ |
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要見積もり | 超高真空 | 室温, 78 K、6-100 K | 40 h/12 L | 1.7 um | ±2.5 mm | ±3 mm | X, Y: ±3 mm、Z: ±2 mm | 試料面直方向から55° | 非球面レンズ (NA: 0.3) |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が材料評価の製品
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)をフィルターから探すことができます
使用用途
#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピングXYスキャナレンジ µm
10 - 70 70 - 100 100 - 120Zスキャナレンジ μm
1 - 5 5 - 15 15 - 30分解能 nm
0 - 1 1 - 100真空度 nPa
0 - 100 100 - 50,000到達温度 K
0 - 1 1 - 6 6 - 101振動ノイズ μm/s
0 - 1 1 - 7XYステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400Zステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200
![走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー](https://metoree.s3.ap-northeast-1.amazonaws.com/img/products-new/30024292024050560.png)
