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返答率
100.0%
返答時間
28.1時間
SPM 構成
探針 走査方式 Coarse positioning for X,Y (ø 1 mm) and Z (5 mm)
スキャン範囲
1um × 1um at 6K
サンプルホルダー
3つヅメ (DC加熱、EB加熱、劈開)
到達温度
<6K 1年半毎にメンテナンスが必要 (パルスチューブ冷凍機のメンテナンス)
チャンバー構造
SPM観察室、準備室、ロードロック室を含む In-situ UHVサンプル/プローブホルダーの移動
型番
USM1800取扱企業
株式会社ユニソクカテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の製品58点中、注目ランキング上位6点
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何社からも電話が来る心配はありません
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返答率96%
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商品画像 | 価格 (税抜) | SPM 構成 | スキャン範囲 | サンプルホルダー | 到達温度 | チャンバー構造 | オプション |
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要見積もり |
探針 走査方式 Coarse positioning for X,Y (ø 1 mm) and Z (5 mm) |
1um × 1um at 6K | 3つヅメ (DC加熱、EB加熱、劈開) |
<6K 1年半毎にメンテナンスが必要 (パルスチューブ冷凍機のメンテナンス) |
SPM観察室、準備室、ロードロック室を含む In-situ UHVサンプル/プローブホルダーの移動 |
3次元粗動付光学レンズステージ (NA~0.25) 内蔵 |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)をフィルターから探すことができます