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SPM 構成
探針 走査方式 Coarse positioning for X,Y (ø 1 mm) and Z (5 mm)
スキャン範囲
1um × 1um at 6K
サンプルホルダー
3つヅメ (DC加熱、EB加熱、劈開)
到達温度
<6K 1年半毎にメンテナンスが必要 (パルスチューブ冷凍機のメンテナンス)
チャンバー構造
SPM観察室、準備室、ロードロック室を含む In-situ UHVサンプル/プローブホルダーの移動
型番
USM1800取扱企業
株式会社ユニソクカテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の製品58点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | SPM 構成 | スキャン範囲 | サンプルホルダー | 到達温度 | チャンバー構造 | オプション |
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要見積もり |
探針 走査方式 Coarse positioning for X,Y (ø 1 mm) and Z (5 mm) |
1um × 1um at 6K | 3つヅメ (DC加熱、EB加熱、劈開) |
<6K 1年半毎にメンテナンスが必要 (パルスチューブ冷凍機のメンテナンス) |
SPM観察室、準備室、ロードロック室を含む In-situ UHVサンプル/プローブホルダーの移動 |
3次元粗動付光学レンズステージ (NA~0.25) 内蔵 |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が材料評価の製品
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)をフィルターから探すことができます
使用用途
#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピングXYスキャナレンジ µm
10 - 70 70 - 100 100 - 120Zスキャナレンジ μm
1 - 5 5 - 15 15 - 30分解能 nm
0 - 1 1 - 100真空度 nPa
0 - 100 100 - 50,000到達温度 K
0 - 1 1 - 6 6 - 101振動ノイズ μm/s
0 - 1 1 - 7XYステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400Zステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200
![走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー](https://metoree.s3.ap-northeast-1.amazonaws.com/img/products-new/30024292024050560.png)
