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ナノスケール赤外分光分析システム-ブルカージャパン株式会社

Anasys nanoIR3-s Broadband | ナノスケール赤外分光分析システム
ブルカージャパン株式会社

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型番説明

■走査型近接場光顕微鏡S-SNOM Broadband Bruker製nanoIR3-s Broadbandは、最先端の散乱型SNOM (s-SNOM) 技術に基づくナノスケールFT-IR分光システムであり、業界最高水準のブロードバンド赤外光 (670 〜 4,000 cm^-1) による高分解能のナノケミカル・ナノ光学イメージを提供します。 ■特徴 ・ブロードバンド赤外光によるスペクトル測定と高分解能ナノケミカルイメージング„ ・2D / グラフェン材料に対し最高品質のスペクトル測定とイメージング ・ナノスケールの材料特性マッピング技術とサンプル環境制御オプション

この製品について

■AFM 赤外分光分析システム 待望の新世代ナノスケール赤外分光システム Dimension IconIR

国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

■トポグラフィー

・PeakForce Tapping ・Contact ・Tapping / FAST Tapping ・Force Curve / Force Volume

■赤外分光

・Contact AFM-IR ・Resonance Enhanced AFM-IR ・Tapping AFM-IR ・Surface Sensitive AFM-IR

■熱分析

・VITA/Nano-TA ・SThM ・TTM

■機械特性評価

・Peakforce QNM ・Phase, Friction ・Force spectroscopy ・Force Modulation ・Nano-Indentation ・Force Volume ・Contact Resonance Mapping ・AFM nano-DMA ・Nanolithography & Nanomanipulation ・Ringing Mode

■電気特性評価

・Liftmode & Darklift ・EFM ・KPFM (AM & FM) , Peakforce KPFM ・C-AFM & DCUBE-CAFM ・TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA ・PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM ・SCM & DCUBE-SCM ・SSRM & DCUBE-SSRM ・sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM ・MFM & Torsional Resonance MFM nanoIRとAFM、実績ある両技術が一つのシステムに集約

■IconIRの特徴

・FTIRスペクトルと相関する最高の分光性能 ・10 nm空間分解能のケミカルイメージング ・単分子膜をも検知する表面感度

  • 型番

    Anasys nanoIR3-s Broadband

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使用用途

#インデンテーション試験 #スクラッチ試験 #ナノスケール観察 #機械特性評価 #生体材料評価 #赤外分光分析 #電気伝導評価 #粘弾性測定 #表面トポグラフィー #摩擦摩耗評価

最大荷重 mN

0 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,100,000

深さ分解能 nm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 1.1

荷重分解能

0 - 1 1 - 5 5 - 20 20 - 25

深さノイズフロア nm

0 - 0.1 0.1 - 0.5 0.5 - 1 1 - 2

荷重速度 N/min

1 - 10 10 - 100 100 - 300

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ブルカージャパン株式会社は、高性能科学機器や、分析・診断ソリューションの開発・製造・販売を行っている企業です。 本社所在地は神奈川県横浜市であり、1975年に設立されました。 化学、生物、工業材料の試料に対する分析装置...

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