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ナノスケール赤外分光分析システム-ブルカージャパン株式会社

Anasys nanoIR3 | ナノスケール赤外分光分析システム
ブルカージャパン株式会社

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型番説明

■モデルフリーIRスペクトル AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で最高10nm以下領域 (空間分解能) における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。 ■特徴 ・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル ・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供 ・FASTSpectra テクノロジーは ポイントスペクトラはもちろん、高速でのフルスペクトラマッピングを実現 ・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上 ・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ

この製品について

■AFM 赤外分光分析システム 待望の新世代ナノスケール赤外分光システム Dimension IconIR

国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

■トポグラフィー

・PeakForce Tapping ・Contact ・Tapping / FAST Tapping ・Force Curve / Force Volume

■赤外分光

・Contact AFM-IR ・Resonance Enhanced AFM-IR ・Tapping AFM-IR ・Surface Sensitive AFM-IR

■熱分析

・VITA/Nano-TA ・SThM ・TTM

■機械特性評価

・Peakforce QNM ・Phase, Friction ・Force spectroscopy ・Force Modulation ・Nano-Indentation ・Force Volume ・Contact Resonance Mapping ・AFM nano-DMA ・Nanolithography & Nanomanipulation ・Ringing Mode

■電気特性評価

・Liftmode & Darklift ・EFM ・KPFM (AM & FM) , Peakforce KPFM ・C-AFM & DCUBE-CAFM ・TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA ・PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM ・SCM & DCUBE-SCM ・SSRM & DCUBE-SSRM ・sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM ・MFM & Torsional Resonance MFM nanoIRとAFM、実績ある両技術が一つのシステムに集約

■IconIRの特徴

・FTIRスペクトルと相関する最高の分光性能 ・10 nm空間分解能のケミカルイメージング ・単分子膜をも検知する表面感度

  • 型番

    Anasys nanoIR3

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使用用途

#インデンテーション試験 #スクラッチ試験 #ナノスケール観察 #機械特性評価 #生体材料評価 #赤外分光分析 #電気伝導評価 #粘弾性測定 #表面トポグラフィー #摩擦摩耗評価

最大荷重 mN

0 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,100,000

深さ分解能 nm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 1.1

荷重分解能

0 - 1 1 - 5 5 - 20 20 - 25

深さノイズフロア nm

0 - 0.1 0.1 - 0.5 0.5 - 1 1 - 2

荷重速度 N/min

1 - 10 10 - 100 100 - 300

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ブルカージャパン株式会社は、高性能科学機器や、分析・診断ソリューションの開発・製造・販売を行っている企業です。 本社所在地は神奈川県横浜市であり、1975年に設立されました。 化学、生物、工業材料の試料に対する分析装置...

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