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ナノスケール赤外分光分析システム-ブルカージャパン株式会社

Dimension IconIR | ナノスケール赤外分光分析システム
ブルカージャパン株式会社

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■待望の新世代 ナノスケール赤外分光システム 国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

この製品について

■AFM 赤外分光分析システム 待望の新世代ナノスケール赤外分光システム Dimension IconIR

国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

■トポグラフィー

・PeakForce Tapping ・Contact ・Tapping / FAST Tapping ・Force Curve / Force Volume

■赤外分光

・Contact AFM-IR ・Resonance Enhanced AFM-IR ・Tapping AFM-IR ・Surface Sensitive AFM-IR

■熱分析

・VITA/Nano-TA ・SThM ・TTM

■機械特性評価

・Peakforce QNM ・Phase, Friction ・Force spectroscopy ・Force Modulation ・Nano-Indentation ・Force Volume ・Contact Resonance Mapping ・AFM nano-DMA ・Nanolithography & Nanomanipulation ・Ringing Mode

■電気特性評価

・Liftmode & Darklift ・EFM ・KPFM (AM & FM) , Peakforce KPFM ・C-AFM & DCUBE-CAFM ・TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA ・PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM ・SCM & DCUBE-SCM ・SSRM & DCUBE-SSRM ・sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM ・MFM & Torsional Resonance MFM nanoIRとAFM、実績ある両技術が一つのシステムに集約

■IconIRの特徴

・FTIRスペクトルと相関する最高の分光性能 ・10 nm空間分解能のケミカルイメージング ・単分子膜をも検知する表面感度

  • 型番

    Dimension IconIR

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2025年5月21日にレビュー済み

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使用用途

#インデンテーション試験 #スクラッチ試験 #ナノスケール観察 #機械特性評価 #生体材料評価 #赤外分光分析 #電気伝導評価 #粘弾性測定 #表面トポグラフィー #摩擦摩耗評価

最大荷重 mN

0 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,100,000

深さ分解能 nm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 1.1

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0 - 1 1 - 5 5 - 20 20 - 25

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ブルカージャパン株式会社は、高性能科学機器や、分析・診断ソリューションの開発・製造・販売を行っている企業です。 本社所在地は神奈川県横浜市であり、1975年に設立されました。 化学、生物、工業材料の試料に対する分析装置...

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