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■特長 スキャンデバイスの応用ユニットの検査システム、光MEMSミラー、ポリゴンミラー、ガルバノミラー、その他
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■特長 光MEMSデバイス長時間動作による性能変化の計測、1台から数十台の耐久試験対応可能。
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郵便番号 | 〒176-0014 |
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本社住所 | 東京都練馬区豊玉南1-21-10 |
創業年 | 1992年 |
従業員数 | 15人 |
法人番号 | 2011601008008 |
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