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アルバック販売株式会社
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■概要 二次イオン質量分析法 (SIMS：Secondary Ion Mass Spectrometry) は試料にイオンを照射し、試料から放出される二次イオンを質量分析することによって、...
アルバック販売株式会社
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■概要 nanoTOF IIは、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ (TRIFT型アナライザ) を継承しつつ、新しい一次イオン銃により基本性能が大幅...
アルバック販売株式会社
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■概要 差動排気系キット付四重極型質量分析計 (Qulee with YTP-H) は、アルバックのQuleeにおける豊富な実績とお客様のニーズに合わせ、機能の充実と使いやす...
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