Qu’est-ce qu’une Sondes de Contact à Ressort ?
Une sonde à contact à Ressort est une sonde électriquement conductrice.
Une sonde de contact à Ressort peut être utilisée pour inspecter la continuité des cartes de circuits imprimés et des composants électroniques sans qu’il soit nécessaire de les souder, de les connecter à un connecteur ou de les fixer d’une autre manière. La forme de la sonde peut être sélectionnée en fonction de la cible d’inspection.
La structure à ressort permet à la sonde d’entrer en contact avec l’électrode à inspecter avec une charge appropriée.
Utilisations des sondes de contact à ressort
Les sondes de contact à Ressort sont utilisées pour les tests de continuité des composants électroniques.
Les cibles d’inspection comprennent les semi-conducteurs, les panneaux à cristaux liquides, les cartes de circuits imprimés, les connecteurs, les condensateurs, les capteurs, les batteries et d’autres composants.
Outre les simples inspections des déconnexions et des courts-circuits dans ces composants, les sondes Contact à Ressort peuvent être utilisées dans un large éventail d’applications, telles que la circulation du courant et la mesure des hautes fréquences. Par exemple, pour inspecter les circuits intégrés, les sondes à contact à ressort sont placées sur le circuit imprimé sur le côté de l’équipement d’inspection et entrent en contact avec le circuit intégré par le haut, ce qui permet une inspection de qualité sans le fixer en place.
Liste de 12 fabricants de Sondes de Contact à Ressort
What Is a Spring Contact Probe?
A spring contact probe is an electrically conductive probe.
A spring contact probe can be used to inspect the continuity of printed circuit boards and electronic components without the need for soldering, connector connection, or other fixing. The shape of the probe can be selected according to the inspection target.
The spring-loaded structure allows the probe to make contact with the electrode to be inspected with an appropriate load.
Uses of Spring Contact Probes
A spring contact probes are used for continuity testing of electronic components.
The inspection targets include semiconductors, liquid crystal panels, circuit boards, connectors, capacitors, sensors, batteries, and other components.
In addition to simple inspections of disconnections and shorts in these components, spring contact probes can be used in a wide range of applications, such as current flow and high-frequency measurement. For example, to inspect ICs, spring contact probes are placed on the printed circuit board on the side of the inspection equipment and contacts the IC from above, enabling quality inspection without fixing it in place.