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Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20-CA20
Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20-コスモトレーディング株式会社

Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20
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この製品について

CA20は、最高解像度で優れた2Dおよび3D画像を提供するように設計されており、ミクロンサイズの細部を最速で検査することができ、複雑な3D ICの市場投入までの時間を短縮することができます。

■CA20のハイライト

・半導体産業向けに設計 ・数分のうちに、はんだバンプを3次元的に把握する非破壊技術 ・安定した検査ルーチンをサポートするために設計された、信頼性が高く正確な技術による再現性の高い結果 ・Void Insightsによる自動空隙解析を含む効率的なソフトウェア支援レビュー ・X線の影響を受けやすいコンポーネントを保護するDose Manager

■CA20 – R&DからROIへの最速の方法

半導体セクターはスピードが要求される産業です。 技術革新の競争においては、毎日が大切です。Advanced Packagingにおける複雑な3D ICの課題に特化して開発された検査システムとして、CA20は、お客様がペースを維持し、競争の最先端を走り続けることを支援します。CA20は、新しいパッケージング・プロセス・ノード・プロトタイプの加速検証を可能にします。 立ち上がり時の問題の根本原因を早く見つけ、それを解決すればするほど、望ましい歩留まり、従って投資利益率 (ROI) に早く到達できます。

■3D X線でプロセス開発をスピードアップ

破壊的手法を使用した検査では数週間を要することがありますが、3D X線検査では、研究開発エンジニアがすぐに使用できる結果が得られます。非破壊検査 (NDT) システムとして、CA20はIC内部のナノレベルの鮮明な3次元画像を数分で提供します。相互接続プロセスを監視し、欠陥を素早く見つけ、その知見をプロセスにフィードバックしてください。

■Advanced Packagingの重大な欠陥の特定

3D X線は、高解像度の3Dボリュームを生成し、これによりメーカーは、バンプを測定、検査し、記録的な速さで最小の欠陥を特定することができます。ノンウェット、ヘッドインピロー、バンプシフトなどの重大な欠陥を確認し、スタンドオフ高さを決定することで、ダイの傾きや反りを今までなかったようなやり方で監視します。

  • シリーズ

    Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20

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Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20 品番1件

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商品画像 品番 価格 (税抜) 業種 欠陥サイズ パーツサイズ 動作モード
Advanced Packagingのためのサブミクロン3D X線 CA20-品番-CA20

CA20

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Advanced Packaging, Semiconductors, Electronics, Science & Research

<1 µm, <50 µm, <1 mm

<435 mm

3D X-ray, 2D/3D

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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会社概要

コスモトレーディングは、日本のモノづくりを支える分析装置に特化した専門商社です。
モノづくりに欠かせない「研究開発・製造・品質保証」の活動において、観察・計測・分析装置を通じて最先端の技術を提供します。
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  • 本社所在地: 大阪府

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