内径欠陥検査装置 ANALYZER3 Φ2.3
ANALYZER株式会社
この製品について
■このような課題を解決します
・人件費の削減ができます。 ・数値基準のため品質が安定します。 ・過剰品質による過剰NG品を防ぐことが可能です。 ・圧倒的な検査時間の短縮で業務の効率化が可能です。■特徴
・非破壊／非接触でワーク内径を高速にスキャンし欠陥を検査します。 ・Φ4mm以上の細い穴の検査に適しています。 ・目視では検査が非常に難しい細い加工穴やネジ穴の検査に有効です。-
シリーズ
内径欠陥検査装置 ANALYZER3 Φ2.3
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取扱企業
ANALYZER株式会社
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内径欠陥検査装置 ANALYZER3 Φ2.3 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 方式 | 光源 | レーザークラス | 検出成分 | 対象口径 | 回転数 | 有効測定長 | 最小検出サイズ | 検査速度の目安 | サンプリング周波数 | 電源 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
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SG-LSDC-2.3-50-10K-STD |
要見積もり | 光学スキャニング方式 | 赤色半導体レーザー (波長640nm 最大40mW) | クラス3B | 直接光 | Φ4mm~ | 10,000rpm | 50mm | 0.2mm | 約3秒 ※測定長50mm、分解能0.1mmの場合 | ~2,400kHz | 100、200V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
