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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-光誘起力顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]
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この製品について

■AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]の特長

・世界最高の空間分解能 10nm ケミカルイメージング (サンプルの種類を問わず) ・最表面のみの情報を取得 (深い部分のシグナルは検出せず) ・サンプルを切片化する必要はありません、ブロック状のサンプルでも空間分解能に影響なし ・全ピクセルでスペクトルを取得する高速hyPIR™イメージング機能搭載 ・ダイポールフォースを検出しているためバックグラウンドノイズなし

■AFM-IR / PiFM (Photo-induced force microscope; 光誘起力顕微鏡) 採用の最先端ナノスケール赤外分光装置

次世代AFM-IR技術、PiFM (Photo-induced force microscope; 光誘起力顕微鏡) を採用し、世界最高の空間分解能10nmでのケミカルイメージングを可能にした、現在最も先進的なナノスケール赤外分光装置です。レーザ光をサンプルとAFMチップ先端に照射し、レーザ光に対するサンプルの応答 (ダイポール力) をAFMカンチレバーで検出します。 ノンコンタクトモードで動作するため、サンプルへのコンタクトはありません。また、高速でのスペクトル取得 (1点当たり0.1秒) が可能です。この特徴を生かした、視野内の全ピクセルでスペクトルを取得するhyPIR™イメージングモードは、未知の試料の分析に大きな力を発揮します。

■AFM-IR / PiFM 光誘起力顕微鏡の測定原理

PiFMはAFMとレーザー光を組み合わせた測定手法です。試料とAFMチップに特定波長のレーザー光を照射したとき、その光波長に特に反応 (誘起) する特定の材料があります。その誘起された材料と誘起されたAFMチップを近づけることにより、材料の相互作用が検出されます。 高分子試料とAFMチップ間に働く力の領域が非常に狭く (<10nm) 、高分解能の化学イメージ (空間分解能<10nm) と高分解能のスペクトル (分解能 <1cm-1) が取得できます。この誘起力をAFMで検知することで、AFM像だけでなくケミカルイメージングをナノレベルで高精度、高分解能に観察することができます。

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    走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]

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会社概要

株式会社日本レーザーは、レーザーおよび光関連製品を取り扱う、レーザー専門商社です。
1968年設立、1971年に日本電子株式会社の100％出資子会社となった後、2007年には日本初のMEBOで完全独立いたしました...

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