走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR-Vista One DIY

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR
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この製品について

■PiFM用AFM Vista One特徴PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用いただいています。

■サブ10nm PiF IR分光法・ナノスケール IR実験用に広帯域波長可変レーザーを使用。
・スペクトル分解能1cm-1。
・単分子層レベルの表面感度

■サブ10nm PiFMケミカルマッピング・単分子層レベルの表面感度
・有機材料と無機材料の両方に対応します。

■適切な光学系の搭載を実現あらゆる光源に対応できるように設計されています。3D駆動の放物面ミラーは、使用される光の波長に関係なく、励起光をチップの側面に集束させます。

■カンチレバーの高速アライメント装置に搭載のカンチレバーアライメントチップにより、カンチレバーを交換したとしても、AFMフィードバック用のレーザと近接場用レーザの両方の光学的アライメントが維持されます。Vista Oneのヘッドは、光学的なアライメントを失うことなく、サンプルやチップを交換するために取り外すことができます。

■短時間で測定可能・最速100ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引できます。
・既存のFTIRスペクトルを使用して材料を識別します。
・固定波長のPiFM像 (ケミカルマッピング) は、XおよびY方向に最大80µmの範囲で数分で取得できます。
・サンプルを交換しても光学的アライメントは維持されます。
・hyPIR ™ イメージングと当社の自動主成分分析ツールは、最小限の労力で完全な画像およびスペクトルデータセットを提供します。

■精度を重視した設計 静電容量センサー+光学式エンコーダー装置に搭載の電動ステージの移動範囲は6mmです。精密制御のための光学式エンコーダを備えています。AFMスキャナーの静電容量センサーは、~100pm RMS精度のリニアスキャンを実現しています。

■デュアルZスキャン機構アーティファクトを発生させることなく、画像のサンプリングを高速化します。本装置のデュアルZピエゾスキャナシステムは、12µmの大きな垂直範囲で正確なスキャンを実現します。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR

取扱企業
株式会社日本レーザー

カテゴリ

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

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商品画像	品番	価格 (税抜)	AFM本体	ノイズ対策	レーザー	オプション
	Vista One DIY	要見積もり	Vista One フレーム	アクティブ防振台、および温度制御付き音響エンクロージャ	自前の光源と組み合わせることが可能です	レーザーマルチプレクサーをはじめ、そのほかオプションを選択可能

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使用用途

#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピング

XYスキャナレンジ µm

10 - 70 70 - 100 100 - 120

Zスキャナレンジ μm

1 - 5 5 - 15 15 - 30

分解能 nm

0 - 1 1 - 100

真空度 nPa

0 - 100 100 - 50,000

到達温度 K

0 - 1 1 - 6 6 - 101

振動ノイズ μm/s

0 - 1 1 - 7

XYステージ駆動範囲 mm

-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400

Zステージ駆動範囲 mm

-12 - 0 0 - 20 20 - 200

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株式会社日本レーザーは、レーザーおよび光関連製品を取り扱う、レーザー専門商社です。
1968年設立、1971年に日本電子株式会社の100％出資子会社となった後、2007年には日本初のMEBOで完全独立いたしました...

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■PiFM用AFM Vista One特徴

■サブ10nm PiF IR分光法

■サブ10nm PiFMケミカルマッピング

■適切な光学系の搭載を実現

■カンチレバーの高速アライメント

■短時間で測定可能

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