走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR-Vista 75 IR +s-SNOM

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR
株式会社日本レーザー

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この製品について

光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR機器　半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。

■AFM-IR装置 Vista75の特徴PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用されています。

■コンパクトな設置面積Vista 75は従来のVista Oneに比べて占有スペースが 60%以上コンパクトなデザインになりました。

■サンプルへのアクセスが容易サンプルに簡単にアクセスでき、片手で使えるAFMヘッドクランプにより、チップとサンプルの交換が簡単になります。軽量の取り外し可能な筐体とオープンなデザインにより、光学的な位置合わせが簡単になります。

■より大きなサンプルに対応ステージのトラベルレンジは75mmとなり、サンプルサイズの制限が大幅に緩和されました。

■光学系のクイックチェンジ・切り替えが簡単事前に調整された光学系によりPiFM (PiF-IR) 、sSNOM 、ラマン間の切り替えが簡単に行えます。堅牢なレーザーを搭載。3D駆動のパラボリックミラーは、 PiFM 、 PiF-IR、s-SNOM、チップ増強ラマンなどのあらゆるタイプのチップ増強測定において、励起レーザーをAFMチップの頂点に位置合わせします。

■自己完結型システム特別な環境は必要としません。 Vista 75は防振機能と乾燥空気で温度制御された音響エンクロージャーを完備しています。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR

取扱企業
株式会社日本レーザー

カテゴリ

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	マルチプレクサ	必要なオプション
	Vista 75 IR +s-SNOM	要見積もり	大型	s-SNOMモジュール (近接場の振幅と位相の両方を測定するためのマイケルソン干渉計付属)