故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20-NX20

故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社の対応状況

返答率

100.0%

平均返答時間

26.4時間

返信の比較的早い企業

無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

FAエンジニアとして結果を見出すことが求められますが、機械によるエラーやミスは当然許されません。Park NX20は、世界で最も正確な大型試料のAFMとして評判を得ており、データの正確性において半導体およびハードディスク業界でも非常に高く評価されています。

■より強力な故障解析ソリューションデバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的なソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。その比類なき精度により、作業に集中できる高解像度のデータの提供を可能にします。また、真のノンコンタクト™モードのスキャンによって、チップがより鋭く、かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。

■初心者でも使いやすい操作方法業界で最もユーザーフレンドリーな設計と自動化されたインターフェイスを備えているため、ツールの使用や教育にかかる時間と労力をセーブすることができます。これにより、より大きな問題の解決に集中することができ、顧客へ明確でタイムリーな故障解析を行うことができます。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20

取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

カテゴリ

観察機器

AFM (原子間力顕微鏡)

この商品に関する問題を報告する

120人以上が見ています

返答率: 100.0%

無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	Zスキャナスキャン範囲	Zスキャナハイト (高さ) ノイズレベル	XYスキャナスキャン範囲	Zステージ駆動距離	フォーカスステージ駆動範囲	XYステージ駆動範囲	サンプルサイズ	サンプル重量	視野	CCDピクセル
	NX20	要見積もり	15μm (オプションにて30μm)	30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical)	100µm×100µm (オプションにて50µm×50µm)	25mm (電動)	15mm (電動)	150mmx150mm (電動)	最大100mm×100mmのオープンスペース、厚さ最大20mmまで (オプションにて最大200mmx200mmまで可)	<500g	840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合)	1Mピクセル、5Mピクセル (オプション)