故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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この製品について
■より強力な故障解析ソリューション
デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的なソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。その比類なき精度により、作業に集中できる高解像度のデータの提供を可能にします。また、真のノンコンタクト™モードのスキャンによって、チップがより鋭く、かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。■初心者でも使いやすい操作方法
業界で最もユーザーフレンドリーな設計と自動化されたインターフェイスを備えているため、ツールの使用や教育にかかる時間と労力をセーブすることができます。これにより、より大きな問題の解決に集中することができ、顧客へ明確でタイムリーな故障解析を行うことができます。-
シリーズ
故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20
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取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | Zスキャナ スキャン範囲 | Zスキャナ ハイト (高さ) ノイズレベル | XYスキャナ スキャン範囲 | Zステージ駆動距離 | フォーカスステージ駆動範囲 | XYステージ駆動範囲 | サンプル サイズ | サンプル 重量 | 視野 | CCDピクセル |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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NX20 |
要見積もり | 15μm (オプションにて30μm) | 30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical) | 100µm×100µm (オプションにて50µm×50µm) | 25mm (電動) | 15mm (電動) | 150mmx150mm (電動) | 最大100mm×100mmのオープンスペース、 厚さ最大20mmまで (オプションにて最大200mmx200mmまで可) | <500g | 840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合) | 1Mピクセル、5Mピクセル (オプション) |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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- 本社所在地: 東京都