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シリーズ
故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社カテゴリ
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | Zスキャナ スキャン範囲 | Zスキャナ ハイト (高さ) ノイズレベル | XYスキャナ スキャン範囲 | Zステージ駆動距離 | フォーカスステージ駆動範囲 | XYステージ駆動範囲 | サンプル サイズ | サンプル 重量 | 視野 | CCDピクセル |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
NX20 |
要見積もり |
15μm (オプションにて30μm) |
30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical) |
100µm×100µm (オプションにて50µm×50µm) |
25mm (電動) |
15mm (電動) |
150mmx150mm (電動) |
最大100mm×100mmのオープンスペース、 厚さ最大20mmまで (オプションにて最大200mmx200mmまで可) |
<500g |
840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合) |
1Mピクセル、5Mピクセル (オプション) |
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AFM (原子間力顕微鏡)の製品56点中、注目ランキング上位6点
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AFM (原子間力顕微鏡)をフィルターから探すことができます
使用用途
#インデンテーション試験 #スクラッチ試験 #ナノスケール観察 #機械特性評価 #生体材料評価 #赤外分光分析 #電気伝導評価 #粘弾性測定 #表面トポグラフィー #摩擦摩耗評価測定モード
接触モード 非接触モード タッピングモード最大荷重 mN
0 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,100,000深さ分解能 nm
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 1.1荷重分解能
0 - 1 1 - 5 5 - 20 20 - 25深さノイズフロア nm
0 - 0.1 0.1 - 0.5 0.5 - 1 1 - 2荷重速度 N/min
1 - 10 10 - 100 100 - 300
