全てのカテゴリ

閲覧履歴

ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm-NX20 300mm
ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社の対応状況

返答率

100.0%

返答時間

26.4時間

返信の比較的早い企業


無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

Park NX20 300mmは、300mmX300mmのサイズの計測を完全自動化させた業界初の大型サンプル向け原子間力顕微鏡 (AFM) です。 故障解析や品質管理における研究のために設計され、手間のかかるサンプルの交換作業もなしに300mmのウェーハ全体をより効率的に検査できます。実際の騒音水準を0.5 Å、もしくは0.3 Å RMS未満で維持させます。検証されたAFMの性能とワンクリック自動測定機能により、 サンプル毎のパラメータ調整の必要性をなくしたことで、操作工程においてより効率的でユーザーに優しい仕組みになっております。 独自のSmartScan計測インターフェイスにより、300mmX300mmの領域全面において、安定的で再現性の高い連続自動多点計測を簡単に実現できます。

■大型ウェーハ研究のために特別製作

NX20 300mmは、大型サンプルを最適に測定できるよう設計されました。低ノイズAFM測定を通して、300mmウェーハの領域全体を分析することができます。これにより、まったく新しい自動化測定の可能性が広がり、ユーザーはよりシンプル、且つ迅速に、そして精度の高い作業を叶えられます。

■300mm サンプルステージを搭載した確かな性能を持つNX20

300mm自動XYステージをサポートする強化されたプラットフォームを持ったNX20 300mmは、ユーザーが大型試料を非常に正確で簡単に研究できるよう、さらなる進化を遂げています。

■Park SmartScan™により正確な測定を簡単に

SmartScan™オペレーティングソフトウエアが搭載されているため、市場において最も操作が簡単なAFMのひとつとなりました。直観的でありながらも、非常に強力なインターフェイスにより、教育を受けていないユーザーでも、指導なしに大型サンプルをすばやくスキャンが可能です。

■幅広い応用分野に対する最適化

NX20 300mmには、進化した測定及び分析機能をナノスケールで実現できる自動AFM測定法が搭載されており、熱特性やナノ機械特性イメージング機能、欠陥レビュー、電気及び磁気故障解析も兼ね備えています。粗さ、高さ及び深さの測定ができるAFMは、幅広い大型サンプルを扱う作業に理想的な装置です。

  • シリーズ

    ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm

この製品を共有する


120人以上が見ています

最新の閲覧: 1時間前


返答率: 100.0%


無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません


AFM (原子間力顕微鏡) 注目ランキング

もっと見る

AFM (原子間力顕微鏡) の製品61点中、注目ランキング上位6点

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

AFM (原子間力顕微鏡) 注目ランキング (対応の早い企業)

返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています


ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) Zスキャナ スキャン範囲 Zスキャナ ハイト (高さ) ノイズレベル XYスキャナ スキャン範囲 Zステージ駆動距離 フォーカスステージ駆動範囲 XYステージ駆動範囲 サンプル サイズ サンプル 重量 視野 CCDピクセル
ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm-品番-NX20 300mm

NX20 300mm

要見積もり

15μm (オプションにて30μm)

30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical)

100µm×100µm

25mm (電動)

8mm (電動)

300mmx300mm (電動)

100,150,200,300 mm ウェハー、小型サンプル マグネットサンプルホルダー、厚さ20mmまで

<500g

840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合)

5Mピクセル

類似製品

AFM (原子間力顕微鏡) の中でこの商品と同じ値をもつ製品

Zスキャナ スキャン範囲15μm (オプションにて30μm) AFM (原子間力顕微鏡)

この商品を見た方はこちらもチェックしています

AFM (原子間力顕微鏡) をもっと見る

パーク・システムズ・ジャパンの取り扱い製品

パーク・システムズ・ジャパンの製品をもっと見る

この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 東京都
Copyright © 2024 Metoree