原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-Dimension XR Nano Mechanics

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-Dimension HPI

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-Dimension FastScan

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-Dimension Icon

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-Dimension Edge

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ-ブルカージャパン株式会社

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ
ブルカージャパン株式会社

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この製品について

■Dimension シリーズBruker のDimension Icon® 原子間力顕微鏡 (AFM) システムは、科学技術・産業分野のナノスケール研究者に、最高の性能、機能性、生産性をもたらします。世界で最も利用されている大型試料対応AFM プラットフォームをベースにした最新のDimensionシステムは、何十年にもわたる技術革新と顧客のフィードバックを基に開発された、業界をリードするシステムです。

このシステムは、革新的な低ドリフトと低ノイズを提供するために設計されており、ユーザーは数時間でなく数分でアーティファクトフリーの画像を得ることができます。Dimension Icon には、独自のScanAsyst® 自動画像最適化技術が搭載されており、ユーザーのスキルレベルに関係なく、より簡単で高速で安定した結果が得られます。

最高レベルのAFM による研究を、高い生産性により、これまでになく簡単に達成することを可能にします。

スキャナ (チップスキャン方式)  
■Icon Scan Head (5thGen)・独自のクローズドループセンサー設計により、大型試料・チップスキャンAFM では達成できなかったオープンループセンサーに匹敵する低ノイズを達成しました。
・大幅に低減されたノイズフロアで、Contact モードで原子レベル、Tapping Mode で30pm 未満のイメージングが可能です。
・高解像度カメラとX-Y ポジショニングにより、より高速で効率的なサンプルナビゲーションが可能
・機械特性評価、電気特性評価、走査型電気化学顕微鏡など各種最新のオプションモジュールに対応し、研究の可能性を広げます。

■FastScan Head・極限までクローズドループスキャナのドリフトを抑えることにより垂直ノイズは40pm以下の低ノイズを達成しました。
・125Hz以上での高速サーベイイメージとTapping mode 20Hz、PeakForceTapping Hzでの高速かつ高品質なイメージが取得可能です。
・自動レーザアライメント機能を搭載で、オペレーションをより容易にします。

型番
この商品には8種類の型番があります

シリーズ
原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ

取扱企業
ブルカージャパン株式会社

カテゴリ

測定機器

形状測定機

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

観察機器

AFM (原子間力顕微鏡)

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原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 大型プラットフォーム Dimension シリーズ品番8件

フィルター

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		Dimension XR NanoElectroChemial	要見積もり
		Dimension HPI	要見積もり
		Dimension Pro	要見積もり
		Dimension FastScan	要見積もり
		Dimension Icon	要見積もり
		Dimension Edge	要見積もり