アプリケーションシステム干渉計 R測定干渉計
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この製品について

■概要干渉計を使って、曲率の小さな凹面の曲率半径を測定する装置です。凹面に反射して干渉縞が観察できる箇所は2箇所あります。アクロマティックレンズによる焦点に凹面がある場合と、凹面の曲率の中心が焦点にある場合です。凹面試料の干渉縞が観察できた2つの位置の距離を、試料を載せたステージのマイクロメータで読み取れば、精密な曲率半径を求めることができます。

■ご案内        ・組付けをご希望される場合は、別途組付費用が必要です。
・D-TOP光学系は主にカタログ製品を使用して構成しますが、光源や特殊な形状の試料、ディテクターを固定するために、カタログには載っていないアダプターやホルダー、ベースが必要になることがあります。このような場合は、光源や試料、ディテクターの仕様 (寸法) をお教えいただければ、専用ホルダーの製作を承ります。また、カタログ製品同士の組み合わせができるように、製品の追加工や特注の連結プレートの製作も承ります。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
アプリケーションシステム干渉計 R測定干渉計

取扱企業
シグマ光機株式会社

カテゴリ

測定機器

レーザー干渉計

測定機器

干渉計

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アプリケーションシステム干渉計 R測定干渉計品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	カタログコード	構成品レーザモジュール	構成品ビームエキスパンダー	構成品ミラーモジュール	構成品偏光板モジュール	構成品プレートハーフミラーモジュール	構成品原器ビームスプリッターモジュール	構成品アクロマティックレンズモジュール	構成品精密レンズホルダーモジュール	構成品レンズモジュール (凸レンズ)	構成品 Cマウントカメラモジュール	構成品 D-TOPブレッドボード
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