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4探針プローブ Type A～I【半導体･抵抗率測定】取扱企業
エヌピイエス株式会社カテゴリ
利用シーン
電子・電気機器業界用 / 航空・宇宙業界用もっと見る
半導体検査装置の製品108点中、注目ランキング上位6点
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | プローブ相関精度 | S値針間隔精度 | 針先端半径 | 針圧力精度 | 絶縁抵抗値 | プラナリティ (針先並び) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
Type A～I |
要見積もり |
±0.5％ (1mmピッチ) |
±10％ |
調整値±10g |
±10％ |
針間隔に対し±0.5％, ＞1×10^5MΩ＠500V |
＜10μm |
半導体検査装置の中で同じ条件の製品
使用用途: 半導体テスト
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン
