紫外可視近赤外分光光度計自動絶対反射率測定システム
日本分光株式会社

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この製品について

自動絶対反射率測定システムは、試料への入射角を変化させながら、絶対反射率及び透過率を測定できます。太陽電池部材、半導体、薄膜、光学素子、光デバイスなど各種固体試料の分光特性や膜厚などの測定に適しています。入射角は試料ステージを回転させることにより設定し、受光角は積分球をスライドさせることにより制御します。また、入射角と受光角は非同期モードで個別に設定できます。さらに、P偏光とS偏光の指定や偏光子の角度の任意設定により、試料の偏光特性を調べることも可能です。

特長
■角度設定やスペクトル測定などの条件設定をPCで直接制御日本分光独自の検出器移動法により、従来法 (V-N法) では不可能であった入射角を自動連続可変させながら絶対反射率・透過率の測定が行えるシステムです。入射角/検出器角/偏光子角の独立制御と自動連続可変測定が可能なうえ、ダブルビーム光学系による優れた測光安定性を誇ります。システム制御は全てPCプログラムによる自動制御のため、入射角/検出器角移動・透過/反射測定切換・偏光子角変更時等に手動操作による設定ミス及び設定誤差や測定者間の人的誤差等がなく、再現性の高い測定が簡単に行えます。

■試料室および測定機構自動絶対反射率測定ユニットの内部画像とイメージを示します (図1、2) 。試料ステージと検出部を回転させることにより、入射角と受光角を変化させることができます。試料ステージと検出部はPCから制御します。透過率と絶対反射率の評価を同じシステムで行うことができます。

■偏光測定機能を標準搭載PC 制御の偏光子が標準で内蔵されているため、自動で入射光の偏光状態 (S、P 偏光) を変えることができます。ダイクロイックミラーのような、入射光の偏光状態によって分光特性が異なる素子の評価において便利な機能です。偏光測定を行う場合は、測定前に他の条件と併せて設定できます。

■自動絶対反射率測定装置専用ソフトウェア自動絶対反射率測定装置は、専用ソフトウェアより試料ステージの回転角度 (入射角) と検出器の位置 (受光角) および偏光子 (S、PまたはN偏光) を制御します。1回の測定で複数の入射・受光角における絶対反射率スペクトルの連続測定や、一つの入射・受光角に対してS・P偏光の両方を測定するような設定も可能です。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
紫外可視近赤外分光光度計自動絶対反射率測定システム

取扱企業
日本分光株式会社

カテゴリ

測定機器

分光光度計

測定機器

赤外分光光度計

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紫外可視近赤外分光光度計自動絶対反射率測定システム品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定波長範囲	積分球内径	入射角	入射角設定	偏光子
	ARMV-919	要見積もり	250~850nm	φ60mm	5°~60° (絶対反射率測定) 、0°~60° (透過率測定) 、垂直入射 (相対反射率測定)	0.1°	標準搭載