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レーザー干渉計測器 1100B 6要素校正システム取扱企業
エヌピイエス株式会社カテゴリ
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レーザー干渉計の製品48点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) |
|---|---|---|
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1100B 6要素校正システム |
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レーザー干渉計をフィルターから探すことができます
使用用途
#表面形状測定 #振動解析 #変位計測 #厚み測定 #波面解析 #材料試験 #光学検査 #半導体製造 #マイクロマシニング #精密加工 #研究開発測定方式
干渉型 マイケルソン型使用環境
空気中測定型 真空中測定型 高温測定型 高精度基準型測定対象
幾何形状測定型 微細な変位測定型 全面測定型位置決め測定分解能 nm
0 - 1 1 - 2 2 - 3位置決め測定可能距離 m
0 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 500 500 - 1,000位置決め計測精度 ppm
0 - 0.2 0.2 - 0.5最大移動速度 m/s
0 - 2 2 - 5 10 - 15 15 - 20光源
VCSEL ファイバーカップルレーザーダイオード ヘリウムネオンレーザー 白12発光ダイオードアレイ 半導体レーザー
