メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-SVM-300
メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-SVM-450
メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-新電子株式会社

メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ
新電子株式会社

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この製品について

■特徴

1.ワークサイズに応じ3タイプを用意 TypeS / TypeM / TypeL 2.ガーバデータから検査用マスターデータを生成 3.業界No.1の検査時間を実現 検査時間の目安:200mm角 3分 / 400mm角 6分 / 600mm角 12分 4.検査に最適な当社独自開発の照明を装備、様々な検査に対応 外観検査機にとって照明は検査の可否を左右する重要な要因です 5.お客様のご要望に応じた機能を構築 本システムは納入いただいた様々なお客様のご要望を反映して作られています

  • シリーズ

    メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ

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メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ 品番3件

各品番毎の詳細は品番をクリックしてください

まとめて問合せ・見積 商品画像 品番 価格 (税抜) Dementions (mm) Weight Power Frame size Pattern size Inspextion item Camera resolution Min. size of pin hole Min. size of pattern shape fail Min. rump size inside of pattetrn
メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-品番-SVM-300

SVM-300

要見積もり 1,200 (W) ×1,380 (D) ×1,500 (H) 約1,000kg AC 200V 2kVA or less Max.450×450 mm Max.300×300mm 1:パターン外 (マスク部) のピンホール / Pinhole on mask (out of pattern)
2:パターン内 (開口部) の異形状、残存異物 (乳剤) / Rump of Emulsion inside pettern
3:ガーバーデータとの形状比較 / Compare with Gaba data
4:紗の不良 (破損、欠落 など) / Mesh fail (broken, chasm eyc.)
3.45×3.45μm 5μm or more 10μm or more 10μm or more
メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-品番-SVM-450

SVM-450

要見積もり 1,500 (W) ×1,580 (D) ×1,500 (H) 約1,200kg AC 200V 2kVA or less Max.750×750 mm Max.450×450mm 1:パターン外 (マスク部) のピンホール / Pinhole on mask (out of pattern)
2:パターン内 (開口部) の異形状、残存異物 (乳剤) / Rump of Emulsion inside pettern
3:ガーバーデータとの形状比較 / Compare with Gaba data
4:紗の不良 (破損、欠落 など) / Mesh fail (broken, chasm eyc.)
3.45×3.45μm 5μm or more 10μm or more 10μm or more
メタルマスク・乳剤マスクの製版パターン形状をガーバデータと比較し画像検査 スクリーンマスク検査装置 SVMシリーズ-品番-SVM-600

SVM-600

要見積もり 1,800 (W) ×2,000 (D) ×1,500 (H) 約1,500kg AC 200V 2kVA or less Max.1,000×1,000 mm Max. 600×600mm 1:パターン外 (マスク部) のピンホール / Pinhole on mask (out of pattern)
2:パターン内 (開口部) の異形状、残存異物 (乳剤) / Rump of Emulsion inside pettern
3:ガーバーデータとの形状比較 / Compare with Gaba data
4:紗の不良 (破損、欠落 など) / Mesh fail (broken, chasm eyc.)
3.45×3.45μm 5μm or more 10μm or more 10μm or more

のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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会社概要

新電子株式会社は、電子計測機器、マイコン応用システム、各種検査装置及び周辺機器の開発及び製造販売を主な事業内容とする電子機器製造メーカーです。 昭和41年に業務用エンドレステープレコーダーの製造販売を目的として設立され...

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