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わずかな異常も見逃さない マイクロフォーカス 3次元X線システム XVA-160RCE-XVA-160RCE
わずかな異常も見逃さない マイクロフォーカス 3次元X線システム XVA-160RCE-株式会社ユー・エイチ・システム

わずかな異常も見逃さない マイクロフォーカス 3次元X線システム XVA-160RCE
株式会社ユー・エイチ・システム



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この製品について

■概要

新しい技術やデバイスにより、さらに微細な不具合を解析可能にします。 ディテクタ傾斜や試料回転時に着目が動かないユーセントリック機能、高アスペクト比の試料を高倍率でCT撮影できる”3次元斜めCT”など、 世界初開発の機能で”ナノワールド”のX線解析装置を提供します。

■検査・解析の ナノレベルの要求に対応

当社が世界で初めて実用化したユーセントリック (着目中心回転) 機能や3次元斜めCTなどの多彩な機能を搭載した最先端のX線CTシステムです。XVA-160RCEでは、従来機よりも省スペース (30%減) を実現したCE対応モデル。斜めCT、直交CT共に撮影が可能で、解析のみならず検査用途にも使用可能。要求される解像度や出力などに対応すべくシリーズ展開をおこなっています。

■スペックには表れない 使いやすさ

仕様に表現された各種のスペックもさることながら、ご注目いただきたいのは、その使いやすさです。操作や解析をされる方が使いやすいもの、あるいは自在に使いこなせるもの。そうしたユーザーフレンドリー性を徹底して追求しています。スペックには表れない、もう一つの性能です。

■進化しつづける 使いやすさ

ご購入いただいたお客様にお集まりいただいて年1回、ユーザーミーティングを開催し、さまざまなご意見をいただいています。 解析事例の紹介や新しい機能の情報提供をおこなう一方、率直なご意見やご要望をうかがい、それを製品に反映させることで、使いやすさを絶えず進化させています。

■テクノロジー

・ユーセントリック機能 (特許取得済 No.3657768) 着目中心回転機能により検査部位を見逃すことなく容易に解析が可能で、独自の技術により、ディテクタ傾斜時、拡大時、ステージ回転時もサンプルを中央に捉え続けます。 ・3次元斜めCT (特許取得済 No.3694833) 斜め方向からの撮影で大型基板も破壊することなく断層撮影 ・コーンビームCT 小型部品の精密断層解析に最適

■標準仕様

・フラットパネルディテクタ ・大型ステージ搭載 (500mmサイズ対応) ・可視光マッピング機能 ・フォーカス自動調整機能

  • シリーズ

    わずかな異常も見逃さない マイクロフォーカス 3次元X線システム XVA-160RCE

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わずかな異常も見逃さない マイクロフォーカス 3次元X線システム XVA-160RCE 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

当社は、「ユニークでハイテクノロジーのX線システムを生み出す会社」として、2000年に設立されました。
設立当時より販売してまいりましたXVAシリーズは、国内大手企業様に多数採用していただき、最先端の実装技術や故...

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  • 本社所在地: 神奈川県
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