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シリーズ
膜厚計 PCAエリプソメーター SE-102取扱企業
株式会社菱光社カテゴリ
レビューは全てメトリー経由で実際に見積もりをしたユーザーによるものです
4.7
評判がとても良い
2025年6月18日にレビュー
すぐに本部からご連絡をいただいてすぐに担当地域営業所からもご案内、詳細な使用状況のヒアリングに来ていただけることになり、検討に費やす時間が短縮できそうです。
初回返答までの時間・5.37時間2025年4月10日にレビュー
初回返答までの時間・28.97時間
2025年5月20日にレビュー
希望の製品が取扱い対象外とのことで話は進みませんでしたが、とても早くご回答いただきました。ありがとうございました。
初回返答までの時間・0.73時間| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 光源 | 測定スポット | 測定再現性 | 測定速度 | 線測定 | 面測定 | サンプルステージ | 本体寸法／重量 | 製品内容 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SE-102 |
要見積もり |
フォトニック結晶アレイ並列処理方式 |
半導体レーザ (typ. 636nm) |
約 2mm角 (点測定時) 、 |
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001 |
ストローク：10mm (固定) |
ストローク：20mm (固定) |
ストローク：10mm (固定) |
ステージサイズ：4インチ |
W300 × D235 × H258 [mm] |
SE-102本体、レーザ光源ユニット、オートコリメータユニット、ケーブル類、操作用PC、ソフトウェア、標準サンプル |
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使用用途
#半導体膜評価 #ディスプレイ膜評価 #光学コーティング評価 #太陽電池研究 #高分子解析測定方式
スペクトル型 回転子型 イメージング型光源波長
単色型 可視型 紫外型 赤外型 広帯域型構造特性
卓上型 大型装置組込型 ポータブル型 真空対応型機能特性
高速測定型 高精度型 マルチスポット型 オートアライメント型膜厚範囲 nm
0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000入射角度 °
20 - 40 40 - 60 60 - 80 80 - 100スポット径 mm
0 - 1 1 - 5 5 - 10サンプルステージ mm
100 - 150 150 - 210光源
ヘリウムネオンレーザー キセノンランプ 半導体レーザー測定時間 ms
0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 3,000
