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膜厚計 PCA-エリプソメータ SE-101取扱企業
株式会社菱光社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2025年6月18日にレビュー済み
顧客対応への満足度
すぐに本部からご連絡をいただいてすぐに担当地域営業所からもご案内、詳細な使用状況のヒアリングに来ていただけることになり、検討に費やす時間が短縮できそうです。
初回対応までの時間への満足度
5.37時間
Metoree経由で見積もり
2025年5月20日にレビュー済み
顧客対応への満足度
希望の製品が取扱い対象外とのことで話は進みませんでしたが、とても早くご回答いただきました。ありがとうございました。
初回対応までの時間への満足度
0.73時間
Metoree経由で見積もり
2025年4月10日にレビュー済み
顧客対応への満足度
初回対応までの時間への満足度
28.97時間
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エリプソメーターの製品22点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 測定再現性 | 光源 | 測定スポット | 入射角度 | サンプルステージ | PC接続 I/F | 寸法・重量 | 製品内容 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SE-101 |
要見積もり |
フォトニック結晶アレイ並列処理方式 |
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001 |
半導体レーザ (typ. 636nm) |
約 1mm角 |
70[deg] |
最大4 inch対応手動ステージ |
GigE |
本体： |
SE-101本体、レーザ光源ユニット |
エリプソメーターをフィルターから探すことができます
使用用途
#半導体膜評価 #ディスプレイ膜評価 #光学コーティング評価 #太陽電池研究 #高分子解析測定方式
スペクトル型 回転子型 イメージング型光源波長
単色型 可視型 紫外型 赤外型 広帯域型構造特性
卓上型 大型装置組込型 ポータブル型 真空対応型機能特性
高速測定型 高精度型 マルチスポット型 オートアライメント型膜厚範囲 nm
0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000入射角度 °
20 - 40 40 - 60 60 - 80 80 - 100スポット径 mm
0 - 1 1 - 5 5 - 10サンプルステージ mm
100 - 150 150 - 210光源
ヘリウムネオンレーザー キセノンランプ 半導体レーザー測定時間 ms
0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 3,000
