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膜厚計 PCA-エリプソメータ SE-101取扱企業
株式会社菱光社カテゴリ
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 測定再現性 | 光源 | 測定スポット | 入射角度 | サンプルステージ | PC接続 I/F | 寸法・重量 | 製品内容 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
SE-101 |
要見積もり |
フォトニック結晶アレイ並列処理方式 |
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001 |
半導体レーザ (typ. 636nm) |
約 1mm角 |
70[deg] |
最大4 inch対応手動ステージ |
GigE |
本体: |
SE-101本体、レーザ光源ユニット |