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非接触･非破壊にて測定可能 レーザーエリプソメータ (自動楕円偏光解析装置)取扱企業
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 光源 | ビーム径 | 入射角 | サンプルステージ | 測定精度 | 測定時間 | コントロールステーション | 寸法 | ソフトウェア | PC | 入射角固定 | 入射角手動可変 | 入射角自動可変 | 固定サンプルステージ | 手動サンプルステージ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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MARY-102ST |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
固定 |
固定 |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102SH |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
固定 |
手動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102SM |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
固定 |
手動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102FT |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
手動可変 |
固定 |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102FH |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
手動可変 |
手動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102FM |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
手動可変 |
自動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102MT |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
自動可変 |
固定 |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102MH |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
自動可変 |
手動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102MM |
要見積もり |
回転位相子法 (RQ法) |
0.8mW HeNeレーザ (λ＠632.8nm) |
0.8mmφ |
自動可変 |
自動θ-Y |
Δ=±0.01° |
最小0.05秒 |
DOS/Vパソコン |
300W×400D×450Hmm |
研究用・工業用を選択 |
IBM-PCまたは互換機 |
通常70度にて固定します。 |
50・60・70・80どんお手動可変になります。 |
45~90度 0.01度ステップで設定が可能です。 |
サンプルの1点を測定させるためのステージです。 |
手動θ-Yステージにて測定場所を決定します。 |
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MARY-102MCC |
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