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低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM-LV-RTM
低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM-株式会社ラムダビジョン

低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM
株式会社ラムダビジョン

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この製品について

非常にコンパクトかつ低価格な平面基板透過率/反射率計測ユニットです。卓上に設置可能な非常にコンパクトな平面基板透過率/反射率計測ユニットです。積分球を使用することにより、低価格ながら「簡単に」「誰でも」「再現性良く」測定する事が出来ます。また、試料の厚み変化や傾きにも影響が少ない計測方法となっています。

■特徴

・OD値 (吸光度) も測定可能。 ・CIE、UCSマップより、目で見て色を判別可能。 ・遮光フードにより、外乱光をカット。

  • シリーズ

    低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM

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低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 計測波長 測定内容 繰り返し再現性 反射基準 透過基準 ソフトウェア
低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM-品番-LV-RTM

LV-RTM

要見積もり

380nm~1,000nm (ハロゲンランプ)

LV-RTM (R) 反射率、LV-RTM (T) 透過率、LV-RTM (RT) 反射率/透過率

±1% (380nm~400nm) 、±0.5% (400nm~800nm) 、±1% (800nm~1,000nm)

BK7基準板、アルミ高反射基準板 (LVにての校正値付き)

10%、50%透過率基準フィルタ (LVにての校正値付き)

透過率、反射率、OD、測色 (XYZ、xy、L*a*b* 等)

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波長分解能 nm

0 - 1 1 - 4 4 - 10

分光方式

完全集光型ローランド円 平面グレーティングツェルニターナ配置 凹面グレーティング 凹面回折格子定偏角モノクロメータ ツェルニターナ形

焦点距離 mm

0 - 100 100 - 200 200 - 300 300 - 500 500 - 800

検出器

Arroyo5305 CMOSリニアイメージセンサー FFT-CCD MOS PMT SONY ILX シリコンドリフト検出器 Xe封入型

スリット幅 µm

10 - 100 100 - 1000 1000 - 3000

光源

白色光源 1mW-2000mW QTH, SiC光源 ハロゲンランプ 重水素ランプ 450nm LED 450nmレーザー 365nm LED キセノンランプ

インターフェース

RS232 RS232C USB1.1/2.0 USB2.0 USB2.0/LAN USB2.0/RS232 USB3.0 USB3.1

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

株式会社ラムダビジョンは、1999年設立の、分光計測装置メーカーです。 光を波長ごとに分ける「分光」技術を使用した、分光計測装置の開発・設計・販売を行っています。計測物の色の数値化やグラフ化ができる「分光反射率顕微鏡」...

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  • 本社所在地: 神奈川県
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