分光式膜厚計測 TFW-100 (1)
株式会社ラムダビジョン

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この製品について

産業分野における低価格な分光式の膜厚測定装置です。非接触・非破壊なため、サンプルを傷つけることなく、短時間で簡便に測定が可能です。研究開発での膜厚測定や、インラインでの品質管理などで、幅広く使用されています。高精度、高安定性を低価格にて実現致しました。

■特徴・非接触、非破壊にて膜厚測定が可能。
・10nm～1,000μmまでの厚みで、3層までの膜厚計測に対応。
・膜厚だけではなく光学乗数 (n、k) も計測可能。 (トータルパラメータ数3個まで) 
・微小スポットにも対応。
・カラーフィルター顔料膜厚も計測可能。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光式膜厚計測 TFW-100 (1)

取扱企業
株式会社ラムダビジョン

カテゴリ

測定機器

分光器

測定機器

分光光度計

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分光式膜厚計測 TFW-100 (1) 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	用途	計測膜厚	計測再現性	計測波長	光源	計測ソフト
	TFW-100 (1)	要見積もり	ITO等の薄膜用	10nm~500nm (C/F) 、500nm~15μm (FFT)	0.2%~1% (膜質依存による)	300nm~1,000nm	12V-100W ハロゲン	TF-Lab (カーブフィッティング法 / FFT法)