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分光式膜厚計測 TFW-100 (1) -TFW-100 (1)
分光式膜厚計測 TFW-100 (1) -株式会社ラムダビジョン

分光式膜厚計測 TFW-100 (1)
株式会社ラムダビジョン



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この製品について

産業分野における低価格な分光式の膜厚測定装置です。非接触・非破壊なため、サンプルを傷つけることなく、短時間で簡便に測定が可能です。研究開発での膜厚測定や、インラインでの品質管理などで、幅広く使用されています。高精度、高安定性を低価格にて実現致しました。

■特徴

・非接触、非破壊にて膜厚測定が可能。 ・10nm~1,000μmまでの厚みで、3層までの膜厚計測に対応。 ・膜厚だけではなく光学乗数 (n、k) も計測可能。 (トータルパラメータ数3個まで) ・微小スポットにも対応。 ・カラーフィルター顔料膜厚も計測可能。

  • シリーズ

    分光式膜厚計測 TFW-100 (1)

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分光式膜厚計測 TFW-100 (1) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 用途 計測膜厚 計測再現性 計測波長 光源 計測ソフト
分光式膜厚計測 TFW-100 (1) -品番-TFW-100 (1)

TFW-100 (1)

要見積もり

ITO等の薄膜用

10nm~500nm (C/F) 、500nm~15μm (FFT)

0.2%~1% (膜質依存による)

300nm~1,000nm

12V-100W ハロゲン

TF-Lab (カーブフィッティング法 / FFT法)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社ラムダビジョンは、1999年設立の、分光計測装置メーカーです。 光を波長ごとに分ける「分光」技術を使用した、分光計測装置の開発・設計・販売を行っています。計測物の色の数値化やグラフ化ができる「分光反射率顕微鏡」...

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  • 本社所在地: 神奈川県
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