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デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ-XDV
デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ-エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ
エフ・アイ・テック株式会社



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この製品について

■特徴

・高性能なX線管と優れた高感度なシリコンドリフト検出器 (SDD) のおかげで、反復可能な精度によりもっとも薄い皮膜を測定可能 ・長時間連続測定に対応しており、非常に長期間の安定性を持つ極めて堅牢な構造 ・高度なポリキャピラリーX線光学レンズにより、X線を極めて小さな測定スポットに集光 ・プログラム可能なXYテーブルおよびZ軸により自動連続測定可能 (オプション) ・ビデオイメージングとレーザーポインタのサポートにより高速かつシンプルなポジショニング 主な用途

■膜厚測定

・小さな時計部品上のNiP層のような耐摩耗性皮膜 ・機械的な時計部品の非常に薄い貴金属皮膜 ・ナノメートルレンジでのベースメタライズ層 (UBM、Under Bump Metallization) の試験 ・C4はんだバンプやより小さなはんだバンプの測定

■素材分析

・RoHS、WEEE、CPSIA、その他のガイドラインに従ったエレクトロニクス、パッケージング、一般消費者向け製品における物質 (重金属など) の検出 ・機能皮膜の組成。NiPのリン含有量決定など ・金、その他の貴金属、およびこれに関する合金の分析 ・銅ピラー上の鉛フリーはんだキャップの分析 ・半導体産業でのC4や小さなはんだバンプの組成分析、ベースメタライズ層 (UBM) 、小さな接触面の測定

  • シリーズ

    デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ

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デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定方式
デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ-品番-XDV

XDV

要見積もり

蛍光X線

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膜厚計をフィルターから探すことができます

測定範囲 μm

0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 5,000 5,000 - 10,000 10,000 - 10,000,000

測定方式

電磁誘導式/渦電流式 電磁式 渦電流式 光熱放射法 超音波式 静磁気式 4探針電気抵抗式 電解式 蛍光X線 微小面積電解式 パルス反射式

測定精度 μm

0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 60 60 - 100 100 - 250

分解能 μm

0 - 1 1 - 100

データメモリ数 点

1,000 - 10,000 10,000 - 40,000 40,000 - 260,000 260,000 - 2,000,000

質量 g

0 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 10,000 10,000 - 90,000

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

エフ・アイ・テック株式会社は、1968年に創業した、測定機器や潤滑剤の販売をしている会社です。 主な事業内容は、測定機器の販売です。ドイツにあるフィッシャー社の製品を中心に、ポケットサイズ、ハンディタイプ、蛍光X線方式...

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  • 本社所在地: 東京都
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