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デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ-XDL
デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ-エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ
エフ・アイ・テック株式会社

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この製品について

■特徴

・異なるハードウェアコンポーネントによりさまざまな測定作業に対応する蛍光X線式装置 ・測定距離を変えられるため (最大80 mm) 、回路基板や ・プログラム可能なXYテーブルおよびZ軸により自動連続測定可能 (オプション) ・極めて薄い層の測定に最適。高いエネルギー分解能を備えるシリコンドリフト検出器 (XDAL) を使用 主な用途

■膜厚測定

・大きなボードやフレキシブル回路基板上の皮膜測定 ・回路基板の薄い導電層/分離層 ・3次元的なコンポーネントの皮膜 ・クロム皮膜。装飾クロム仕上げが施されたプラスチック製品など

■素材分析

・電気メッキ浴分析 ・エレクトロニクスおよび半導体産業の機能皮膜分析 ・CrN、TiN、TiCNなどの硬質材料皮膜の分析

  • シリーズ

    デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ

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デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ-品番-XDL

XDL

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エフ・アイ・テック株式会社は、1968年に創業した、測定機器や潤滑剤の販売をしている会社です。 主な事業内容は、測定機器の販売です。ドイツにあるフィッシャー社の製品を中心に、ポケットサイズ、ハンディタイプ、蛍光X線方式...

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