車載部品検査装置パワー半導体モジュール検査装置 IGBT/SiC モジュール検査用 NATS-1000-NATS-1000

車載部品検査装置パワー半導体モジュール検査装置 IGBT/SiC モジュール検査用 NATS-1000
ニデックアドバンステクノロジー株式会社

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■車載パワー半導体 (IGBT,SiC) モジュール絶縁静特性動特性検査装置「NATS-1000」は車載向けモジュールの高低温温度試験、並びにインライン検査に求められる早い検査速度を特徴としており、同型の検査装置において世界最速クラスです。

本製品は、各検査を常温絶縁、高温静特、高温動特、常温静特の4つのステーションに分け、検査を分散し並列化することで検査の高速性を確保し、生産性向上に寄与します。また、6in1*1IGBTmodule換算で年間80万台の検査を1台で賄うことが可能で、コストパフォーマンスに優れるほか、パワー半導体の車載向け需要による検査キャパシティ拡大にも柔軟に対応が可能です。

■特徴・絶縁検査 (ISO) 
・静特性検査 (DC) 
・動特性検査 (AC) 
・高温検査～175℃ (～200℃) 
・高スループット最大144UPH (25秒/ユニット) 
・低LS 4.5 nH
・自動ライン拡張可能
・IEC60747準拠測定
・AOI/そり検査/レーザーマーキング

ユニバーサル治具
・低LS値を実現し、高精度検査に対応
・ワンタッチ着脱治具機構

■高スループット最大144UPH (25秒/ユニット) の高スループット検査を実現

■高温検査200℃までの高温検査に対応

型番
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シリーズ
車載部品検査装置パワー半導体モジュール検査装置 IGBT/SiC モジュール検査用 NATS-1000

取扱企業
ニデックアドバンステクノロジー株式会社

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車載部品検査装置パワー半導体モジュール検査装置 IGBT/SiC モジュール検査用 NATS-1000 品番1件

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