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JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡-JEM-ACE200F
JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡-日本電子株式会社

JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡
日本電子株式会社

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この製品について

JEM-ACE200Fは操作ワークフローのレシピを作成することによって、オペレーターは直接電子顕微鏡操作を行わなくてもデータを取得できるシステムに対応した電子顕微鏡です。ハイエンド電子顕微鏡であるJEM-ARM200Fや汎用FE-TEMであるJEM-F200のハードウェアテクノロジーを統合して高安定性、高分解能を実現し、装いも新たに洗練されたデザインでデビューしました。

■本体プラットフォーム

・Cs補正装置搭載可能 、CFEG ・高速・高精度ステージ 既存のモーター駆動制御に比べ3倍速く、Piezo駆動制御と同等の微動制御可能

■簡単操作

・TEMの操作経験が浅くても直観的に操作可能 ・操作盤を使用した操作を極力少なくし、画面上のボタンを順番にクリックしながら最終画像を取得可能 ・フォーカス調整等もマウス操作で可能 ・ガタンカメラとインテグレーション可能 ・自動調整機能 ・オートフォーカス、オート非点合わせ、オート試料高さ調整、オートビームセンタリング、オートオリエンテーション等

■自動データ取得機能

・レシピによる自動データ取得可能 ・TEM像、STEM像、元素マップ ・グリッド上の複数試料に対応

■測長ソフトウェアとのリンク

・TEM側で設定倍率別に倍率キャリブレーション可能 ・複数のJEM-ACE200Fで取得したデータを自動測長可能

■遠隔操作

・隣室オペレーション ・遠隔地オペレーションおよび複数地点同時観察 (ネットワーク環境に依存) ・複数事業所とディスカッションしながら同時観察可能

■鏡筒エンクロージャーによる耐環境性能向上

・騒音、気流、室温変化の抑制に寄与 ・内壁に吸音材を装着して、更なる防音対策可能

  • シリーズ

    JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡

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JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) TEM分解能 (200kV時) STEM分解能 (200kV時) 電子銃 加速電圧 試料傾斜角 オプション
JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡-品番-JEM-ACE200F

JEM-ACE200F

要見積もり

粒子像 ≤0.21nm
格子像 0.1nm
インフォメーションリミット ≤0.11nm

暗視野透過電子走査像 ≤0.136nm 収差補正 (オプション) 時 ≤0.1nm
明視野透過電子走査像 ≤0.136nm 収差補正 (オプション) 時 ≤0.1nm

冷陰極電界放出形電子銃 (CFEG)

60kV~200kV (200kV,80kV標準対応、その他の加速電圧は別途オプション)

TX/TY (二軸傾斜ホルダー) ±20°/±25°
TX (専用高傾斜ホルダー) ±80°

JEOL100mm2 SDD (Dual) 、EELS、Cs corrector、Automation Center、Tomography

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

日本電子株式会社は、1949年5月に電子顕微鏡を製造する会社として創業以来、電子顕微鏡などのナノテク分野で世界トップレベルの計測機器を開発しています。 本社は東京都昭島市にあり、企業の研究部門から産業機器分野まで、多く...

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  • 本社所在地: 東京都
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