JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡
日本電子株式会社

日本電子株式会社の対応状況

返答率

100.0%

返答時間

43.3時間

無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

JEM-ACE200Fは操作ワークフローのレシピを作成することによって、オペレーターは直接電子顕微鏡操作を行わなくてもデータを取得できるシステムに対応した電子顕微鏡です。ハイエンド電子顕微鏡であるJEM-ARM200Fや汎用FE-TEMであるJEM-F200のハードウェアテクノロジーを統合して高安定性、高分解能を実現し、装いも新たに洗練されたデザインでデビューしました。

■本体プラットフォーム・Cs補正装置搭載可能 、CFEG
・高速・高精度ステージ　既存のモーター駆動制御に比べ3倍速く、Piezo駆動制御と同等の微動制御可能

■簡単操作・TEMの操作経験が浅くても直観的に操作可能
・操作盤を使用した操作を極力少なくし、画面上のボタンを順番にクリックしながら最終画像を取得可能
・フォーカス調整等もマウス操作で可能
・ガタンカメラとインテグレーション可能
・自動調整機能
・オートフォーカス、オート非点合わせ、オート試料高さ調整、オートビームセンタリング、オートオリエンテーション等

■自動データ取得機能・レシピによる自動データ取得可能
・TEM像、STEM像、元素マップ
・グリッド上の複数試料に対応

■測長ソフトウェアとのリンク・TEM側で設定倍率別に倍率キャリブレーション可能
・複数のJEM-ACE200Fで取得したデータを自動測長可能

■遠隔操作・隣室オペレーション
・遠隔地オペレーションおよび複数地点同時観察 (ネットワーク環境に依存) 
・複数事業所とディスカッションしながら同時観察可能

■鏡筒エンクロージャーによる耐環境性能向上・騒音、気流、室温変化の抑制に寄与
・内壁に吸音材を装着して、更なる防音対策可能

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡

取扱企業
日本電子株式会社

カテゴリ

検査装置

半導体外観検査装置

観察機器

電子顕微鏡

この商品に関する問題を報告する

30人以上が見ています

最新の閲覧: 19時間前

返答率: 100.0%

無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

半導体外観検査装置注目ランキング

半導体外観検査装置の製品23点中、注目ランキング上位6点

半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder

三谷商事株式会社

410人以上が見ています

最新の閲覧: 6時間前

RMH搭載バラtoトレイ外観検査装置

株式会社ヒューブレイン

270人以上が見ています

最新の閲覧: 3時間前

測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ

株式会社中央電機計器製作所

240人以上が見ています

最新の閲覧: 8時間前

検査測定装置半導体・電子部品 LI920S/LI900W

株式会社安永

220人以上が見ています

最新の閲覧: 17時間前

検査測定装置ベアチップ CI200i

株式会社安永

160人以上が見ています

検査測定装置ベアチップ CI200D/CI300D

株式会社安永

140人以上が見ています

最新の閲覧: 7時間前

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

一括見積もりの使い方

半導体外観検査装置注目ランキング (対応の早い企業)

返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング

半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder

三谷商事株式会社

410人以上が見ています

最新の閲覧: 6時間前

返答時間: 19.51時間

測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ

株式会社中央電機計器製作所

240人以上が見ています

最新の閲覧: 8時間前

返答時間: 21.01時間

ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定ウェハー表面検査装置 WM-7S

入江株式会社

4.8 企業レビュー

70人以上が見ています

最新の閲覧: 2時間前

返答時間: 13.25時間

ウェハー表面検査装置 WM-10

入江株式会社

4.8 企業レビュー

60人以上が見ています

最新の閲覧: 2時間前

返答時間: 13.25時間

オプティクス自動表面検査システム ARGOS matrix

株式会社オプトサイエンス

20人以上が見ています

最新の閲覧: 16時間前

返答時間: 14.13時間

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

一括見積もりの使い方

JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	TEM分解能 (200kV時)	STEM分解能 (200kV時)	電子銃	加速電圧	試料傾斜角	オプション
	JEM-ACE200F	要見積もり	粒子像 ≤0.21nm 格子像 0.1nm インフォメーションリミット ≤0.11nm	暗視野透過電子走査像 ≤0.136nm 収差補正 (オプション) 時 ≤0.1nm 明視野透過電子走査像 ≤0.136nm 収差補正 (オプション) 時 ≤0.1nm	冷陰極電界放出形電子銃 (CFEG)	60kV~200kV (200kV,80kV標準対応、その他の加速電圧は別途オプション)	TX/TY (二軸傾斜ホルダー) ±20°/±25° TX (専用高傾斜ホルダー) ±80°	JEOL100mm2 SDD (Dual) 、EELS、Cs corrector、Automation Center、Tomography