分光計測フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
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この製品について

■フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED共同開発プロジェクト。様々なフォトニック構造のバンドダイアグラムを高速・容易に自動測定。

■製品概要「フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 “FA・CEED”」は、フォトニック結晶・メタマテリアルをはじめとした様々な構造において、バンドダイアグラム全域を高速かつ容易に測定することを可能にする装置です。

従来の評価方法は、それぞれのサンプルに適した形で光学系を組む必要があるとともに、光学系の調整、測定時間・評価時間など、時間を費やして観測することが一般的でした。本装置は、これらの問題を解決し、各種フォトニック構造における物性評価を容易かつ高速に測定することを可能にします。

フォトニック構造 (光の波長以下の微細構造を一定の周期性をもって並べたもの) は、構造内の光と物質の相互作用を利用して、様々な光の操作を可能にします。代表的なものとして、フォトニック結晶、トポロジカルフォトニック結晶、メタマテリアルがあり、これらはナノプロセス技術を使って半導体に微細加工が施すことによって実現されます。

このような構造の光学特性を決定する重要な指標のひとつが、フォトニックバンドダイアグラムです。本装置はこのフォトニックバンドダイアグラムを高速測定することができ、スローライト効果、偏光依存の一方向性伝搬、負の屈折率など、各種フォトニック構造で見られる様々な光学現象を予想することが可能となります。

本装置を用いることで、様々なフォトニック構造の特徴を明確化でき、基礎物性探求の指標とすることができます。また市場では、各種フォトニック構造が採用された光デバイスの設計が容易となり、関連市場の拡大や、それらのデバイスを用いた新たな研究領域の開拓に繋げられます。

本装置は、科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業CREST「トポロジカル材料科学に基づく革新的機能を有する材料・デバイスの創出」領域の研究課題「人工グラフェンに基づくトポロジカル状態創成を新規特性開発」などをとおして、東京工業大学 雨宮智宏助教と共同開発した製品です。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光計測フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

カテゴリ

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測定機器

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分光計測フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	試料台ステージ一式試料走査 XY軸ステージ	試料台ステージ一式試料走査 Z軸ステージ	対物レンズ昇降ステージ一式対物レンズ昇降ステージ	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-1	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-2	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-3	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-4	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-5	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-6	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-7	空間周波数フィルタリング4F光学系一式-8	設置台一式定盤サイズ
	FA･CEED	要見積もり	・ストローク±10 mm ・分解能full/half：0.5/0.25 μm以下・分割比1/20時：0.025 μm	・ストローク±4 mm以上・分解能 full/half：0.5/0.25 μm以下	・ストローク±10 mm以下・分解能full/half：0.5/0.25 μm以下・分割比1/20時：0.025 μm	対物レンズ・観察視野：最大200×200 μm ・倍率：60X程度・N.A.：0.9程度	可変範囲 φ0.8~φ12の可変アパーチャー搭載	照明光源波長範囲・300~2,500 nm ・出力：5.5 mW以上 (350~1,800 nmの範囲、コア径200 μmファイバ使用時) ・ファイバーコア径：φ50 μm ・光コネクタ：FC	可視観察カメラ CMOS カラーカメラ (500万画素以上、試料面視野は200×200 μm以上)	液晶波長可変フィルター波長レンジ・850~1,800 nm ・帯域幅 FWHM：6 nm以下・有効径：φ20 mm程度	液晶波長可変フィルター波長レンジ・応答時間：50~150 ms ・最大入射照度：500 mW/cm2以上・許容角：±7.5°以下	赤外カメラ画素数・8万画素 320×256 ・有効撮像面積：9.6×7.68 mm ・画素サイズ：30×30 μm	赤外カメラ画素数・フレームレート：90 fps ・A/D分解能：14 bit ・インターフェイス：USB2.0	350×600×100 mm