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分光計測 光学素子評価品質管理用 分光光度計 PHOTON RTシリーズ取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 光学系仕様 分光器レイアウト | 光学系仕様 分光器光学素子 | 光学系仕様 対照光束 | 光学系仕様 波長送り間隔 | 光学系仕様 波長送り速度 nm/min | 光学系仕様 信号処理 | 光学系仕様 測定光サイズ | 光学系仕様 測定パラメーター | 光学系仕様 入射角度範囲 | 光学系仕様 試料テーブルの回転間隔 | 光学系仕様 光検出器の回転間隔 | 光学系仕様 測定波長範囲 | 分光器仕様 バンドパス | 分光器仕様 波長正確さ | 分光器仕様 波長送り繰り返し精度 | 分光器仕様 迷光 | 分光器仕様 ビーム広がり角 | 分光器仕様 測光正確さ-1 | 分光器仕様 測光正確さ-2 | 分光器仕様 測光正確さ-3 | 分光器仕様 測光繰り返し精度-1 | 分光器仕様 測光繰り返し精度-2 | 分光器仕様 ベースライン安定性 | 分光器仕様 光源 | 分光器仕様 搭載偏光子 | 測定コンポーネント 試料ステージ | 測定コンポーネント 独立制御 | 測定コンポーネント 同期制御 | 測定コンポーネント 試料サイズ | ユーザーインターフェース、寸法 接続 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
PHOTON RT 0420 Ultra |
要見積もり |
ツェルニターナー型 |
ミラー Al+SiO2/MgF2 コーティング |
ダブルビーム方式 |
0.5 ~ 100 nm |
3,000 nm/min. (5nm間隔で測定) |
平均化、平滑化、積分値計算 |
6 × 2 mm |
透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度 |
透過率測定：0~75度 |
0.01° |
0.01° |
185~1,700nm, 185~3,500nm, |
0.6 nm@185~990 nm |
± 0.24 nm以下 |
± 0.12 nm以下 |
< 0.2% (@532 nm) |
± 1 |
± 0.003Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) |
± 0.003Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用) |
± 0.006Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) |
± 0.0004Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) |
± 0.005Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) |
0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後) |
ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ |
380~2,200 nm, 220~2,200 nm, 220~4,900 nm, 380~5,200 nm |
12 × 10 mm以上 (透過、反射測定) |
試料テーブルと検出器部の独立制御 |
試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御 |
12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下) |
USB 2.0 |
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