分光計測光学素子評価品質管理用分光光度計 PHOTON RTシリーズ-PHOTON RT 0420 Ultra

分光計測光学素子評価品質管理用分光光度計 PHOTON RTシリーズ
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この製品について

■光学素子評価品質管理用 分光光度計 PHOTON RTシリーズ・LWIR 7.5～12.5 µm PHOTON RT 7512 新製品登場
・全自動でフィルター・ミラー・PBSキューブ等の反射率・透過率・偏光の分光特性を高精度に測定。最大185～5,200 nmを1台で測定可能

■製品概要PHTORN RT (ESSENT Optics社製) は、フィルター・ミラー・PBSキューブなどの反射率・透過率・偏光測定を全自動で行う、フラットな光学素子の評価・品質管理に最適な分光光度計です。

従来の一般的な分光光度計の様に反射・透過測定ごとに測定用アクセサリーを交換する必要がないユニークな全自動光学配置を搭載し、反射率・透過率を続けて測定できます。これにより、作業効率が大幅に上がり、タクトタイムを大幅に削減できます。日常的に光学素子の成膜評価・完成品の品質管理を行うメーカー担当者の方に是非お使い頂きたい装置です。

広波長範囲185 nm～最大5,200 nm対応 (全自動検出器切り替え) 、斜入射測定時のビームシフト補正 (全自動検出器位置補正) 、P・S偏光素子搭載 (全自動切り替え) 、波長校正用水銀ランプ搭載、測定データレポート作成機能搭載と、徹底した光学素子評価・品質管理作業の効率化を図った設計です。

性能的にも、ダブルビーム方式で0.1％/時の高いベースライン安定性を有し、高安定・高精度測定が可能です。装置サイズは420 × 610 × 270 mmとコンパクトで、卓上設置が可能です。

■特長・フィルター、ミラー、PBSキューブなどの光学素子用
・測定波長範囲：185～5,200 nm (新製品 LWIR 7.5～12.5 µm) 
・全自動 反射/透過/偏光/角度分解測定
・特注サンプルステージ対応可
・角度分解測定 (透過測定：0～75°、反射測定：8～75°) 
・測定手順プログラム構築可能 (例：反射 → 透過 → 偏光測定、角度分解) 
・ビームスポットサイズ：最小2 mm
・便利な測定レポート作成機能付

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光計測光学素子評価品質管理用分光光度計 PHOTON RTシリーズ

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

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分光計測光学素子評価品質管理用分光光度計 PHOTON RTシリーズ品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	光学系仕様分光器レイアウト	光学系仕様分光器光学素子	光学系仕様対照光束	光学系仕様波長送り間隔	光学系仕様波長送り速度 nm/min	光学系仕様信号処理	光学系仕様測定光サイズ	光学系仕様測定パラメーター	光学系仕様入射角度範囲	光学系仕様試料テーブルの回転間隔	光学系仕様光検出器の回転間隔	光学系仕様測定波長範囲	分光器仕様バンドパス	分光器仕様波長正確さ	分光器仕様波長送り繰り返し精度	分光器仕様迷光	分光器仕様ビーム広がり角	分光器仕様測光正確さ-1	分光器仕様測光正確さ-2	分光器仕様測光正確さ-3	分光器仕様測光繰り返し精度-1	分光器仕様測光繰り返し精度-2	分光器仕様ベースライン安定性	分光器仕様光源	分光器仕様搭載偏光子	測定コンポーネント試料ステージ	測定コンポーネント独立制御	測定コンポーネント同期制御	測定コンポーネント試料サイズ	ユーザーインターフェース、寸法接続
	PHOTON RT 0420 Ultra	要見積もり	ツェルニターナー型	ミラー Al+SiO2/MgF2 コーティング	ダブルビーム方式	0.5 ~ 100 nm	3,000 nm/min. (5nm間隔で測定)	平均化、平滑化、積分値計算	6 × 2 mm	透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度	透過率測定：0~75度反射率測定：8~75度	0.01°	0.01°	185~1,700nm, 185~3,500nm, 185~4,900nm, 380~1,700nm, 380~3,500nm, 380~5,200nm 185~5,200nm	0.6 nm@185~990 nm 1.2 nm@990~2,450 nm 2.4 nm@2,450~5,200 nm	± 0.24 nm以下	± 0.12 nm以下	< 0.2% (@532 nm)	± 1	± 0.003Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用)	± 0.003Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用)	± 0.006Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用)	± 0.0004Abs (1 Abs) ( (NIST SRM930使用) ± 0.0001Abs (0.33 Abs) ( (NIST SRM1930使用)	± 0.005Abs (2 Abs) ( (NIST SRM1930使用) 0.1秒積算、10回測定時の最大偏差	0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後)	ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ Hg-Arランプ (波長校正用)	380~2,200 nm, 220~2,200 nm, 220~4,900 nm, 380~5,200 nm S、P、S+P+ (S+P) /2、Random、ユーザー定義 S:P比	12 × 10 mm以上 (透過、反射測定)	試料テーブルと検出器部の独立制御	試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御	12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下) 12 × 25 mm以上 (入射角度10~75度) 最大Ø120mm with closed lit –	USB 2.0