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分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス-レーザーフラッシュフォトリシス
分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス-株式会社東京インスツルメンツ

分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■製品概要

本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒~ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトルおよび蛍光スペクトルを計測する装置です。本装置により、電子励起状態の緩和過程、光イオン化、光解離、光異性化、酸化還元反応など、光によって引き起こされるナノ秒時間スケールの高速過程の情報を得ることができます。

■特長

・最小時間分解能 5ns ・最小測定可能 ΔOD <0.01 ・OPOにより紫外~可視域まで広範囲な励起波長に対応可 ・自動時間分解吸収・発光スペクトル測定 ・液体と固体のサンプルに対応可、反射・透過配置対応可 ・用途に合わせたカスタムシステム対応可

■用途

・光化学反応物質の反応機構解析 ・太陽電池・燃料電池デバイスの解析 ・光応答性材料の開発

  • シリーズ

    分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス

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分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) システム性能 最小時間分解能 システム性能 最小測定時間ΔOD Nd:YAGレーザー 出力波長 Nd:YAGレーザー 出力エネルギー Nd:YAGレーザー パルス幅 Nd:YAGレーザー 繰返し周波数 光パラメトリック発信器 (OPO) -1 光パラメトリック発信器 (OPO) -2 ICCD検出器 検出波長域 ICCD検出器 最小ゲート幅 分光器 焦点距離 分光器 明るさ 分光器 逆線分散 分光器 グレーティング搭載枚数 分光器 出力ポート数 参照先用光源 光源 参照先用光源 出力波長 光学系 シャッター (PC制御) 光学系 励起エネルギー出力調整 光学系 サンプル 制御・解析装置 制御機能 制御・解析装置 計測機能
分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス-品番-レーザーフラッシュフォトリシス

レーザーフラッシュフォトリシス

要見積もり

5 ns

< 0.01

1,064/532/355/266 nm

180/120/40/25 mJ

4~5 ns@532/355/266 nm

1~15 Hz可変

出力波長
220~415 nm (シグナル光SHG)
415~710 nm (シグナル光)
710~2,300 nm (アイドラ光)

線幅:<5 cm-1

180~850 nm

<5 ns

350 mm

f/3.8

2.37 nm/mm

4

2

パルスまたはCW Xeランプ

180~2,000 nm (パルスXe)

励起光源および参照光用

可変アッテネーター

液体および固体

ICCD検出器、分光器、シャッター

過渡吸収スペクトル計測
時間分解蛍光スペクトル計測

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この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 東京都
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