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シリーズ
分光計測 ナノ秒～ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | システム性能 最小時間分解能 | システム性能 最小測定時間ΔOD | Nd:YAGレーザー 出力波長 | Nd:YAGレーザー 出力エネルギー | Nd:YAGレーザー パルス幅 | Nd:YAGレーザー 繰返し周波数 | 光パラメトリック発信器 (OPO) -1 | 光パラメトリック発信器 (OPO) -2 | ICCD検出器 検出波長域 | ICCD検出器 最小ゲート幅 | 分光器 焦点距離 | 分光器 明るさ | 分光器 逆線分散 | 分光器 グレーティング搭載枚数 | 分光器 出力ポート数 | 参照先用光源 光源 | 参照先用光源 出力波長 | 光学系 シャッター (PC制御) | 光学系 励起エネルギー出力調整 | 光学系 サンプル | 制御・解析装置 制御機能 | 制御・解析装置 計測機能 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
レーザーフラッシュフォトリシス |
要見積もり |
5 ns |
< 0.01 |
1,064/532/355/266 nm |
180/120/40/25 mJ |
4~5 ns@532/355/266 nm |
1~15 Hz可変 |
出力波長 |
線幅：<5 cm-1 |
180~850 nm |
<5 ns |
350 mm |
f/3.8 |
2.37 nm/mm |
4 |
2 |
パルスまたはCW Xeランプ |
180~2,000 nm (パルスXe) |
励起光源および参照光用 |
可変アッテネーター |
液体および固体 |
ICCD検出器、分光器、シャッター |
過渡吸収スペクトル計測 |
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36.5時間
