分光計測燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム-LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム

分光計測燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム
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この製品について

■製品概要レーザー誘起蛍光法は光励起過程やプラズマ励起過程などの高感度な診断方法です。

特定の波長にチューニングしたレーザー光で分子・原子を電子励起し、発生する蛍光強度により濃度・温度を測定します。レーザーを用いるため非接触測定・高空間分解能・2次元計測などの特長を有します。エンジン内の燃料分布や燃焼状態の分析、各種燃焼中の分子種の濃度分布や温度分布測定、プラズマ診断などの多く用いられています。

■特長・非接触での測定、2次元計測可
・高感度測定
・画像計測、分光計測、励起スペクトル測定
・CARS、ラマン散乱、LIIなどに拡張可
・濃度測定、温度測定、流速測定可
・貴用途に合わせたカスタムシステム対応可

■用途・燃焼解析 (エンジン、燃焼器など) 
・プラズマ解析、放電解析
・素反応機構解析
・流れの可視化

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光計測燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

カテゴリ

アナライザ

分光分析装置

メーター・計測機器

分光測定器

測定機器

分光蛍光光度計

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分光計測燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー1	励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー2	励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー3	励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー4	励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー5	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 1	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 2	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 3	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 4	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 5	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 6	画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 7	分光検出系 ICCD検出器および分光系 1	分光検出系 ICCD検出器および分光系 2	分光検出系 ICCD検出器および分光系 3	分光検出系 ICCD検出器および分光系 4	分光検出系 ICCD検出器および分光系 5	分光検出系 ICCD検出器および分光系 6	分光検出系 ICCD検出器および分光系 7	分光検出系 ICCD検出器および分光系 8
	LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム	要見積もり	発振波長 266/355/532/1,064nm (Nd:YAGレーザー) 220~900 (色素レーザー)	パルス幅：<10 ns	線幅 <1 cm-1 (Nd:YAGレーザー) <0.1 cm-1 (色素レーザー)	繰返し周波数：10 Hz	光学系シートビーム光学系、レーザー光集光光学系	検出波長領域：180~850 nm	最小ゲーティング速度：<5 ns	最大ゲイン：1,000 cts/pe-	有効CCD素子数：1,024×1,024	素子サイズ：13×13 μm2	CCD冷却温度：-25℃ (空冷) 、-35℃ (水冷)	光学系 UVカメラレンズおよびバンドパスフィルター	検出波長領域：180~850 nm	最小ゲーティング速度：<5 ns	最大ゲイン：1,000 cts/pe-	有効CCD素子数：1,330×512または690×256	素子サイズ：13.5×13.5 μm2または26×26 μm2	CCD冷却温度：-30℃ (空冷) 、-40℃ (水冷)	分光器焦点距離：120~750 m	光学系：集光光学系、光ファイバー