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分光計測 燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー1 | 励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー2 | 励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー3 | 励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー4 | 励起光源 Nd:YAGレーザーおよび色素レーザー5 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 1 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 2 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 3 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 4 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 5 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 6 | 画像検出系 ICCD検出器および画像光学系 7 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 1 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 2 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 3 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 4 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 5 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 6 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 7 | 分光検出系 ICCD検出器および分光系 8 |
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LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム |
要見積もり |
発振波長 266/355/532/1,064nm (Nd:YAGレーザー) 220~900 (色素レーザー) |
パルス幅：<10 ns |
線幅 <1 cm-1 (Nd:YAGレーザー) <0.1 cm-1 (色素レーザー) |
繰返し周波数：10 Hz |
光学系 シートビーム光学系、レーザー光集光光学系 |
検出波長領域：180~850 nm | 最小ゲーティング速度：<5 ns | 最大ゲイン：1,000 cts/pe- | 有効CCD素子数：1,024×1,024 | 素子サイズ：13×13 μm2 | CCD冷却温度：-25℃ (空冷) 、-35℃ (水冷) |
光学系 UVカメラレンズおよびバンドパスフィルター |
検出波長領域：180~850 nm | 最小ゲーティング速度：<5 ns | 最大ゲイン：1,000 cts/pe- | 有効CCD素子数：1,330×512または690×256 | 素子サイズ：13.5×13.5 μm2または26×26 μm2 | CCD冷却温度：-30℃ (空冷) 、-40℃ (水冷) | 分光器焦点距離：120~750 m | 光学系：集光光学系、光ファイバー |
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