分光計測検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置高感度ダブルパルスLIBS-LEA-S500

分光計測検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置高感度ダブルパルスLIBS
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■高感度ダブルパルスLIBS 概要LEA-S500型高感度ダブルパルスLIBSは、元素分析用に開発されたレーザー誘起プラズマ分光分析装置です。ダブルパルスレーザーを使用しているため、シングルパルスレーザータイプのものよりも高感度です。これにより、少量のサンプルでも元素分析が可能になります。また、煩わしいサンプルの前処理が不要で、すぐに測定が行えます。

■高感度なダブルパルス法を採用波長1,064nm、出力1WのダブルパルスQスイッチNd:YAGレーザー励起を採用しています。ダブルパルス法はプラズマ発光強度のアップし、バックグラウンド光は減少するため、シングルパルス法と比較して高感度な測定法です。また、スペクトルラインもよりシャープになり、高精度な測定が可能です。

■特長・高感度 検出限界 サブppm〜
・高精度 〜1％ rmsd (非直線性、平均二乗偏差) 
・ダブルパルス Nd:YAGレーザー使用
・前処理不要、大気中測定
・対応サンプルサイズ12×12×2mm (最小) 、75×75×40mm (最大) 
・2Dマッピング±5mm (最大、オプション) 
・分析スポット：φ30μm〜1.7mm

■用途・銑鉄、銅、ステンレス、合金など
・非鉄金属
・ガラス
・セラミックス、セメント
・農業向け (土、肥料、農産物) 
・プラスチック

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光計測検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置高感度ダブルパルスLIBS

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

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分光計測検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置高感度ダブルパルスLIBS 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定時間	装置寸法	重量	サンプルサンプルサイズ	サンプル XYステージ	サンプル測定径	サンプルサンプル環境	サンプル排気機能	サンプルサンプルアダプター	励起レーザーレーザー	励起レーザー平均パルスエネルギー	分光検出器焦点距離	分光検出器グレーティング	分光検出器センサー	分光検出器ダイナミックレンジ	ソフトウェア、解析機能波長校正	ソフトウェア、解析機能データベース	ソフトウェア、解析機能
	LEA-S500	要見積もり	10秒~3分 (サンプルの種類による)	1,100×550×750 mm	120kg	12×12×2mm (最小) 75×75×40mm (最大)	±5mm	0.03~1.7mm	空気中	オプション	ワイヤー、薄片、小サイズサンプル用	Qスイッチ Nd:YAGレーザー	100mJ	500mm	1,800本 (190~800nm、0.028nm) 2,400本 (190~600nm、0.020nm) 3,600本 (190~400nm、0.014nm) (測定波長範囲、分解能)	2,048画素 CCD	14ビット	自動校正機能あり	CRM/RM/SUS その他各種材料	解析プログラム対応材料・アルミ、ニッケル、銅、チタンなどの合金・鋼や鋳鉄・導電、非導電性材料 (プラスチック、セラミックス、ガラスなど) 異なる材料の定性、定量分析基本要素の自動判別機能