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分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS-LEA-S500
分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS-株式会社東京インスツルメンツ

分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■高感度ダブルパルスLIBS 概要

LEA-S500型高感度ダブルパルスLIBSは、元素分析用に開発されたレーザー誘起プラズマ分光分析装置です。ダブルパルスレーザーを使用しているため、シングルパルスレーザータイプのものよりも高感度です。これにより、少量のサンプルでも元素分析が可能になります。また、煩わしいサンプルの前処理が不要で、すぐに測定が行えます。

■高感度なダブルパルス法を採用

波長1,064nm、出力1WのダブルパルスQスイッチNd:YAGレーザー励起を採用しています。ダブルパルス法はプラズマ発光強度のアップし、バックグラウンド光は減少するため、シングルパルス法と比較して高感度な測定法です。また、スペクトルラインもよりシャープになり、高精度な測定が可能です。

■特長

・高感度 検出限界 サブppm〜 ・高精度 〜1% rmsd (非直線性、平均二乗偏差) ・ダブルパルス Nd:YAGレーザー使用 ・前処理不要、大気中測定 ・対応サンプルサイズ12×12×2mm (最小) 、75×75×40mm (最大) ・2Dマッピング±5mm (最大、オプション) ・分析スポット:φ30μm〜1.7mm

■用途

・銑鉄、銅、ステンレス、合金など ・非鉄金属 ・ガラス ・セラミックス、セメント ・農業向け (土、肥料、農産物) ・プラスチック

  • シリーズ

    分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS

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分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定時間 装置寸法 重量 サンプル サンプルサイズ サンプル XYステージ サンプル 測定径 サンプル サンプル環境 サンプル 排気機能 サンプル サンプルアダプター 励起レーザー レーザー 励起レーザー 平均パルスエネルギー 分光検出器 焦点距離 分光検出器 グレーティング 分光検出器 センサー 分光検出器 ダイナミックレンジ ソフトウェア、解析機能 波長校正 ソフトウェア、解析機能 データベース ソフトウェア、解析機能
分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS-品番-LEA-S500

LEA-S500

要見積もり

10秒~3分 (サンプルの種類による)

1,100×550×750 mm

120kg

12×12×2mm (最小)
75×75×40mm (最大)

±5mm

0.03~1.7mm

空気中

オプション

ワイヤー、薄片、小サイズサンプル用

Qスイッチ Nd:YAGレーザー

100mJ

500mm

1,800本 (190~800nm、0.028nm)
2,400本 (190~600nm、0.020nm)
3,600本 (190~400nm、0.014nm)
(測定波長範囲、分解能)

2,048画素 CCD

14ビット

自動校正機能あり

CRM/RM/SUS
その他各種材料

解析プログラム対応材料
・アルミ、ニッケル、銅、チタンなどの合金
・鋼や鋳鉄
・導電、非導電性材料 (プラスチック、セラミックス、ガラスなど)
異なる材料の定性、定量分析
基本要素の自動判別機能

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この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 東京都
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