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全反射蛍光X線分析装置 VPD内蔵TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000V-株式会社リガク

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返答時間

115.0時間

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手法

蒸気相分解 (VPD) を伴う全反射X線蛍光分析 (TXRF)

用途

極微量元素niyoru表面汚染の測定 1E7原子/cm²の検出限界 マッピング速度の約3倍の改善

主要コンポーネント

3検出器構成 高出力W対陰極X線源 (9 kW回転対陰極) 軽元素、遷移元素、重元素に最適化された3つの励起エネルギー XYθ試料ステージ デュアルFOUPロードポート

特徴

フルウェーハマッピング (SWEEPING-TXRF) ゼロエッジ除外 (ZEE-TXRF) 最高感度のためのSiウェーハ用の統合された自動VPD前処理 (VPD-TXRF) デュアルFOUPロードポート

本体寸法

1,280 (W) x 3,750 (D) x 2,040 (H) (モニターとシグナルタワーを除く)

測定結果

定量結果、スペクトルチャート、カラーコンターマップ、マッピングテーブル

この製品について

■VPD内蔵TXRFスペクトロメーター

・超高速金属汚染マッピング ・VPDによる最高感度 ・300mmウェーハまで対応

  • 型番

    XHEMIS TX-3000V

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全反射蛍光X線分析装置 VPD内蔵TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000V XHEMIS TX-3000Vの性能表

商品画像 価格 (税抜) 手法 用途 主要コンポーネント 特徴 本体寸法 測定結果 オプション テクノロジー
全反射蛍光X線分析装置 VPD内蔵TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000V-品番-XHEMIS TX-3000V 要見積もり 蒸気相分解 (VPD) を伴う全反射X線蛍光分析 (TXRF) 極微量元素niyoru表面汚染の測定
1E7原子/cm²の検出限界
マッピング速度の約3倍の改善
3検出器構成
高出力W対陰極X線源 (9 kW回転対陰極)
軽元素、遷移元素、重元素に最適化された3つの励起エネルギー
XYθ試料ステージ
デュアルFOUPロードポート
フルウェーハマッピング (SWEEPING-TXRF)
ゼロエッジ除外 (ZEE-TXRF)
最高感度のためのSiウェーハ用の統合された自動VPD前処理 (VPD-TXRF)
デュアルFOUPロードポート
1,280 (W) x 3,750 (D) x 2,040 (H)
(モニターとシグナルタワーを除く)
定量結果、スペクトルチャート、カラーコンターマップ、マッピングテーブル

バックサイド解析 (BAC-TXRF)
GEM300ソフトウェア、E84/OHTサポート
空間情報を保持しながら感度を向上させるための蒸気相処理 (VPT-TXRF)
親水性ウェーハ表面用のVPD

統合された自動VPD準備、三重ビーム励起、および自動光学部品交換


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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

100.0%


返答時間

115.0時間

会社概要

株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
リガクはX線分析に要する基礎技術と要素部品を独自に開発しており、X線源、光学機器、検出器等の主要な要素技術について世界のトップ水準にあります。

19...

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  • 本社所在地: 東京都

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