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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200-株式会社リガク

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計測タイプ

デュアルヘッドマイクロスポットEDXRFおよび光学検査 (2D-3D)

ウェーハサイズ

最大300mm

ウェーハタイプ

ブランケットとパターンウェーハ

ナビゲーション

画像認識アルゴリズムで補完された精密ステージ 単一の特徴中心へのサブミクロンの高速ナビゲーション

マイクロXRFビームの方向

垂直入射マイクロスポット (µXRF)

光学系

Polychromatic (X線光学系) およびCOLORS "Monochromatic" (X線光学系)

検出器タイプ

シリコン・ドリフト検出器 (SDD) : 3つの構成 1. レギュラー > Al 2. 軽元素: C、N、O、F、S 3. 重元素: > Ge (Ag、Snに最適化)

DPP|デジタル・パルス・プロセッサー

100万光子/秒以上の高効率

この製品について

■非破壊ウェーハ検査と計測

・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応

■概要

ONYX3200は、市場で最も先進的なハイブリッド計測ソリューションです。デュアルヘッドを備えたこの第2世代ツールは、高度なμXRFと光学技術を組み合わせ、インライン半導体製造において高精度の欠陥検出と最高のスループットを提供します。 ONYXシリーズのシステムは、FEOLからWLPまでの製造プロセスの全工程において、総合的な計測アプローチを提供するように設計されています。これには、高度なパッケージングやシングルバンプアプリケーションに最適な構成が含まれ、Ag/Sn比をモニターすることができます。

■最適化されたソース性能

・プロセスモニタリングのためのシングルμバンプ測定 ・高い歩留まりとスループットの向上 ・金属の厚みと組成の正確な分析 ・層厚と組成に対する最大感度

■特長

・最適なアプリケーション性能のための分析柔軟性を提供するデュアルヘッドμXRF構成 ・単色および多色のμXRF光学システム ・低出力X線、非破壊分析 ・集束垂直加振構成 ・4つのシリコンドリフト検出器 (SDD) の配列による有効面積拡大と分解能改善 ・組成分析および膜厚の測定 ・完全に自動化された校正プロセスにより、長期的な安定性、一貫性、X線管のエージング補正を実現 ・サブミクロン精度を実現する先進のモーション・プラットフォーム ・インラインHVM計測に最適

  • 型番

    ONYX 3200

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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200 ONYX 3200の性能表

商品画像 価格 (税抜) 計測タイプ ウェーハサイズ ウェーハタイプ ナビゲーション マイクロXRFビームの方向 光学系 検出器タイプ DPP|デジタル・パルス・プロセッサー
反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200-品番-ONYX 3200 要見積もり デュアルヘッドマイクロスポットEDXRFおよび光学検査 (2D-3D) 最大300mm ブランケットとパターンウェーハ 画像認識アルゴリズムで補完された精密ステージ
単一の特徴中心へのサブミクロンの高速ナビゲーション
垂直入射マイクロスポット (µXRF) Polychromatic (X線光学系) およびCOLORS "Monochromatic" (X線光学系) シリコン・ドリフト検出器 (SDD) : 3つの構成
1. レギュラー > Al
2. 軽元素: C、N、O、F、S
3. 重元素: > Ge (Ag、Snに最適化)
100万光子/秒以上の高効率

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

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返答時間

115.0時間

会社概要

株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
リガクはX線分析に要する基礎技術と要素部品を独自に開発しており、X線源、光学機器、検出器等の主要な要素技術について世界のトップ水準にあります。

19...

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  • 本社所在地: 東京都

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