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測定方式
フォトニック結晶アレイ並列処理方式
測定再現性
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001
光源
半導体レーザ (typ. 636nm)
最小測定領域
広域モード：0.5mm×0.05mm 高精細モード：5.5um×5.5um
入射角度
70[deg]
標準ステージサイズ
最大8inchウェハー対応
測定速度
毎分1,000点 (参考)
寸法・重量
システム全体：650 W×650 D×1,740 H [mm], 約200kg
製品内容
ME210システム一式、操作パソコン、 標準サンプル ソフトウェア (インストールCD) 、取扱説明書
型番
ME-210取扱企業
株式会社菱光社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2025年6月18日にレビュー済み
顧客対応への満足度
すぐに本部からご連絡をいただいてすぐに担当地域営業所からもご案内、詳細な使用状況のヒアリングに来ていただけることになり、検討に費やす時間が短縮できそうです。
初回対応までの時間への満足度
5.37時間
Metoree経由で見積もり
2025年5月20日にレビュー済み
顧客対応への満足度
希望の製品が取扱い対象外とのことで話は進みませんでしたが、とても早くご回答いただきました。ありがとうございました。
初回対応までの時間への満足度
0.73時間
Metoree経由で見積もり
2025年4月10日にレビュー済み
顧客対応への満足度
初回対応までの時間への満足度
28.97時間
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電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
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返答率96%
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 測定再現性 | 光源 | 最小測定領域 | 入射角度 | 標準ステージサイズ | 測定速度 | 寸法・重量 | 製品内容 |
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要見積もり | フォトニック結晶アレイ並列処理方式 | 膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001 | 半導体レーザ (typ. 636nm) |
広域モード：0.5mm×0.05mm 高精細モード：5.5um×5.5um |
70[deg] | 最大8inchウェハー対応 | 毎分1,000点 (参考) |
システム全体：650 W×650 D×1,740 H [mm], 約200kg |
ME210システム一式、操作パソコン、 標準サンプル ソフトウェア (インストールCD) 、取扱説明書 |
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