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測定方式
フォトニック結晶アレイ並列処理方式
光源
半導体レーザ (typ. 636nm)
測定スポット
約 2mm角 (点測定時) 、 0.1mm以上 () 面測定時の解像度
測定再現性
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001
測定速度
ストローク:10mm (固定) 幅:2.2mm (固定)
線測定
ストローク:20mm (固定)
面測定
ストローク:10mm (固定) 幅:2.2mm (固定)
サンプルステージ
ステージサイズ:4インチ
本体寸法/重量
W300 × D235 × H258 [mm] 約9kg
製品内容
SE-102本体、レーザ光源ユニット、オートコリメータユニット、ケーブル類、操作用PC、ソフトウェア、標準サンプル 取扱説明書
型番
SE-102取扱企業
株式会社菱光社カテゴリ
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商品画像 | 価格 (税抜) | 測定方式 | 光源 | 測定スポット | 測定再現性 | 測定速度 | 線測定 | 面測定 | サンプルステージ | 本体寸法/重量 | 製品内容 |
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要見積もり | フォトニック結晶アレイ並列処理方式 | 半導体レーザ (typ. 636nm) |
約 2mm角 (点測定時) 、 0.1mm以上 () 面測定時の解像度 |
膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001 |
ストローク:10mm (固定) 幅:2.2mm (固定) |
ストローク:20mm (固定) |
ストローク:10mm (固定) 幅:2.2mm (固定) |
ステージサイズ:4インチ |
W300 × D235 × H258 [mm] 約9kg |
SE-102本体、レーザ光源ユニット、オートコリメータユニット、ケーブル類、操作用PC、ソフトウェア、標準サンプル 取扱説明書 |